光电子谱中的背景信号包含样品的信息,但过去往往被忽略.通过对背景信号简单的分析,可以获得成分随深度变化的信息.本文介绍了如何利用光电子谱的背景信号获得元素在深度方向的分布情况.本文所述方法可以用于纳米镶嵌结构、包裹物、表面偏析、氧化、钝化等体系的非破坏性深度剖析研究.
参考文献
| [1] | M Schleberger;D Fujita;C Schaefschwerdt;S.Tougaard .[J].Surface Science,1995,331-333:942-947. |
| [2] | D. Fujita;M. Schleberger;S. Tougaard .[J].Surface Science,1996,357-358:180-185. |
| [3] | S Tougaard .[J].Surface and Interface Analysis,1997,25:137-154. |
| [4] | A C Simonsen;F Yubero;S Tougaard .[J].Surface Science,1999,346:149-159. |
| [5] | S Tougaard .[J].Surface Science,2000,464:233-239. |
| [6] | D.A. Shirley .[J].Physical Review,1972,B5:4709. |
| [7] | W K Chu;J.W.Mayor;M.A.Nicolet.Backscattering spectrometer[M].Acedemic press,New York,1978 |
| [8] | F Yubero A R .Gonzalez-ElipeS.Tougaard[J].Surface Science,2000,457:24-36. |
| [9] | F Yubero;C Jansson;D R Betchelor et al.[J].Surface Science,1995,331-333:753-758. |
| [10] | 季振国,郭伟民.改善AES/XPS深度剖析的一种方法：减小电子平均自由程对深度剖析的影响[J].真空科学与技术学报,2001(04):322-325. |
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