首次应用聚焦离子束(Focused Ion Beam,简称FIB)技术对镀镍电池钢壳表面微小点缺陷进行准原位截面切割观察,并结合扫描电镜及X射线衍射方法进行对比分析.结果显示,作为一种专用的薄片制作技术,单束FIB技术还是一种重要的准原位表征技术,能获得成分、晶粒变形程度、晶体取向衬度信息,为揭示镀镍电池壳表面缺陷在成型过程中演变的组织特性提供有力的证据.
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