TiO2薄膜原子力显微镜图像多重分形谱的二次函数拟合

功能材料, 2008, 39(8): 1352-1354.

TiO2薄膜原子力显微镜图像多重分形谱的二次函数拟合

吕建国 ^1, , 孟凡明 ^2, , 周明飞 ^3, , 宋学萍 ^4, , 孙兆奇 ^5,

1.安徽大学,物理与材料科学学院,安徽,合肥,230039

2.安徽大学,物理与材料科学学院,安徽,合肥,230039

3.安徽大学,物理与材料科学学院,安徽,合肥,230039

4.安徽大学,物理与材料科学学院,安徽,合肥,230039

5.安徽大学,物理与材料科学学院,安徽,合肥,230039

基金项目: 安徽省高校省级教学研究项目(KJ2007B135) 国家自然科学基金(50642038) 安徽省人才基金(2004Z029) 安徽科技厅重点项目(05021028;07020203009) 安徽省高校青年教师科研项目(2006jql192) 高等学校博士学科点专项科研项目(20060357003)

关键词： TiO2薄膜 , 原子力显微镜 , 多重分形谱 , 二次函数拟合

Multifractal description of atomic force microscope images of TiO2 films by a quadratic function fitting

用原子力显微镜观察经不同退火温度处理TiO2薄膜的表面形貌,观察结果表明,随着退火温度的升高,颗粒不断长大,数目逐渐减少,表面粗糙度RMS从4.1nm增大到18.4nm.用最小二乘法对原子力显微镜图像多重分形谱进行二次函数拟合,结果显示,随着退火温度的升高,α0从1.999增大到2.008,由正值转变为负值,分形谱宽W由0.064增大到0.246,说明TiO2薄膜表面形貌愈来愈复杂.

参考文献

[1]	Fuyuki T;Matsunami H .[J].Japanese Journal of Applied Physics,1986,25:1288-1291.
[2]	Gan JY.;Wu TB.;Chang YC. .Dielectric property of (TiO2)(x)-(Ta2O5)(1-x) thin films[J].Applied physics letters,1998(3):332-334.
[3]	Pulker H K .[J].Applied Optics,1979,18:1969-1977.
[4]	Kostlin H;Frank G;Hebbinghaus G;Auding H;Denissen K .Optical filters on linear halogen-lamps prepared by dip-coating[J].Journal of Non-Crystalline Solids: A Journal Devoted to Oxide, Halide, Chalcogenide and Metallic Glasses, Amorphous Semiconductors, Non-Crystalline Films, Glass-Ceramics and Glassy Composites,1997(0):347-353.
[5]	Tang H;Prasad K;Sanjines R et al.[J].Sensors and Actuators B:Chemical,1995,71:26-27.
[6]	Zhai J W;Yang T;Zhang L Y et al.[J].Ceramics International,1999,25:667-670.
[7]	Yu J;Zhao X;Zhao Q .[J].Materials Chemistry and Physics,2001,69:25.
[8]	Bange K;Ottermann C R;Anderson O et al.[J].Thin Solid Films,1991,197:279-285.
[9]	张立德;牟季美.纳米材料和纳米结构[M].北京:科学出版社,2001:1-100.
[10]	Shimizu Y;Thurner S;Ehrenberger K .[J].Fractals-Complex Geometry,Patterns,and Scaling in Nature and Society,2002,10(01):103-116.
[11]	Telesca L;Lapenna V .Measuring multifractality in seismic sequences[J].Tectonophysics: International Journal of Geotectonics and the Geology and Physics of the Interior of the Earth,2006(1-4):115-123.
[12]	Zhuang X T;Yuan Y .[J].Physical A,2007,14(03):489-499.
[13]	Li H;Ding Z J;Wu Z Q .[J].Physical Review B,1995,51:13554-13559.
[14]	Li H;Ding Z J;Wu Z Q .[J].Physical Review B,1996,53:16631-16636.
[15]	Sun X.;Fu ZX.;Wu ZQ. .Multifractal analysis and scaling range of ZnO AFM images[J].Physica, A. Statistical mechanics and its applications,2002(3/4):327-338.
[16]	Chen Z W;Lai J K L;Shek C H .[J].Physics Letters A,2006,345:218-223.
[17]	孙霞,熊刚,傅竹西,吴自勤.ZnO薄膜原子力显微镜图像的多重分形谱[J].物理学报,2000(05):854-862.

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