以Na2SiO3溶液为前驱体,稀H2SO4为催化剂在乙二醇溶剂中对片状金属磁性微粉进行表面包覆.用SEM、XRD、RA-IR,VSM等分析手段对包覆前后的金属磁性微粉进行分析表征,并对包覆前后SiO2/金属磁性微粉复合材料的复介电常数和复磁导率等微波(2～18GHz)电磁参数进行了测试.结果表明Na2SiO3溶液在以稀H2SO4为催化剂的条件下在磁性微粉表面以非晶态的形式生长了一层致密、均匀的高电阻率SiO2薄膜,该薄膜使磁性微粉在复磁导率变化不大的情况下,有效降低了磁性微粉的复介电常数.
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