化学溶液法La2Zr2O7缓冲层的厚度对外延生长超导层的影响

低温物理学报 , 2016, 38(1): 72-76.

化学溶液法La2Zr2O7缓冲层的厚度对外延生长超导层的影响

王辉 ^1, , 曹丽云 ^2, , 金利华 ^3, , 王耀 ^4, , 吕剑峰 ^5, , 黄剑锋 ^6, , 李成山 ^7,

1.材料科学与工程学院,陕西科技大学,西安710021;西北有色金属研究院,西安710016

2.材料科学与工程学院,陕西科技大学,西安710021;西北有色金属研究院,西安710016

3.材料科学与工程学院,陕西科技大学,西安710021

4.材料科学与工程学院,陕西科技大学,西安710021

5.重庆师范大学,重庆,401331

6.材料科学与工程学院,陕西科技大学,西安710021

7.材料科学与工程学院,陕西科技大学,西安710021

基金项目: Project supported by the National High Technology Research and Development Program (Grant No.2014AA032702). 国家高技术研究发展计划(批准号:2014AA032702)资助的课题

关键词：缓冲层 , 厚度 , YBCO薄膜

EFFECT OF THICKNESS OF La2Zr2O7 BUFFER LAYER ON THE GROWTH OF YBCO FILMS PREPARED BY ALL-CSD TECHNIQUE

Keywords： buffer layer , Thickness , texture

采用全化学溶液沉积方法在NiW衬底上制备La2Zr2O7缓冲层和YBCO薄膜.采用X射线衍射和扫描电镜研究了不同的LZO缓冲层厚度对超导层的影响.不同厚度LZO的面内外织构具有一定差别.当LZO厚度达到145 nm时,LZO缓冲层的织构和阻隔能力最佳,才能制备出具有良好性能YBCO超导层.

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