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主要是结合X射线衍射(XRD)技术以及电子背散射衍射(EBSD)技术,对不同退火温度下的多晶纯钴的退火组织的变化规律展开研究.结果表明:残留的多晶纯钴面心立方(fcc)结构的晶粒内部在退火过程中形成了∑3孪晶界,而且具有这种特征的晶粒数量随退火温度改变不大,基本趋于稳定;同时,具有密排六方(hcp)结构的晶粒内部在退火过程中形成大量的71.4°/<11(2)0>特殊晶界.通过分析得知这种晶界形成的原因与fcc结构的晶粒中的∑3晶界的形成原因不同,是由fcc→hcp马氏体相变导致,即为相变孪晶.

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