采用PHI-650型扫描俄歇电子能谱(SAM)研究金属铀在超高真空原位断裂后断面在不同氧气暴露量和温度下的氧化规律和杂质元素在表面的扩散行为.实验中采用在主真空室内的装置在超高真空中打断铀样品,然后在1×10-5 Pa的压力下充入暴露量为5 L、20 L、70 L、170 L和270 L的高纯氧气进行氧化实验并获取U,O,S和C的俄歇电子谱.实验结果表明:在5 L和20 L的氧气暴露量下表面形成UO2和金属U的混合物,在大于70 L情况下只形成UO2.在1×10-7Pa的真空中将UO2加热到100℃,150℃,200℃和300℃并进行SAM分析,结果显示:随温度的升高,尤其是在300℃时元素S向表面扩散,形成明显的富集,且表面氧和铀的原子浓度比明显下降.
参考文献
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