本文采用x射线衍射法对溶胶-凝胶法备制B位掺杂Zr的铁电薄膜Bi3.15Nd0.85Ti3dZrdO12.对所制备的薄膜进行XRD测试、疲劳分析及铁电性能分析.结果表明:对BNT进行B位Zr4+掺杂后,随着掺量的增加,BNTZ薄膜的剩余极化值逐渐增加,当x=6％时达到最大,随后随着Zr掺量的继续增加,剩余极化值开始减小,而矫顽电压Vc值几乎没有什么变化;掺杂了Zr薄膜的疲劳特性均比未掺杂的BNT薄膜的要差一些.
参考文献
| [1] | 郭淑兰,王敏,徐学东,李佳.A位掺杂Bi4Ti3O12薄膜的制备及铁电性能研究[J].中国陶瓷,2010(12):12-14. |
| [2] | 吴秀梅,吕笑梅,朱劲松.应力对铋系铁电薄膜性能影响的研究进展[J].物理学进展,2006(03):490-494. |
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