吴为敬
,
颜骏
,
许志平
,
赖志成
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20112602.0147
分析比较了ZnO TFT与IGZO TFT的主要光电学特性以及阈值电压稳定性.结果表明:ZnO薄膜与IGZO薄膜在可见光波长范围内都有着较高的光学透过率;在同等制备条件下,IGZO TFT器件的场效应迁移率、开关电流比、阈值电压及亚阈值系数等方面的特性均明显好于ZnO TFT;二者都有着较低的泄漏电流,并且差别很小.另外,ZnO TFT在正负偏压下阈值电压都有漂移,而IGZO TFT在正偏压下阈值电压漂移比ZnO TFT的小且在负偏压下阈值电压没有漂移,由此可见IGZO TFT比ZnO TFT有着更好的稳定性.总之,IGZO薄膜比ZnO薄膜更适合作为下一代TFT的有源层材料.
关键词:
ZnO TFT
,
IGZO TFT
,
性能比较
,
光电特性
,
阈值电压漂移
张凯
,
宋玉国
黄金
在黔西南望谟县岜油、岜赖两地区进行了土壤地球化学测量,通过对两个测区的成矿元素Au与伴生元素As、Sb、Hg的分析、对比,并对土壤地球化学异常进行了初步评价,进而推断前燕山期包树—大观古断裂应为导矿构造,沿该断裂带寻找到工业矿体的可能性小,其旁侧构造有利部位则具备找矿前景.
关键词:
土壤地球化学测量
,
成矿元素
,
伴生元素
,
岜油测区
,
岜赖测区
,
黔西南
董煜
,
赵远征
,
张怡娜
色谱
doi:10.3321/j.issn:1000-8713.2002.03.024
建立了高效液相色谱法(HPLC)同时测定注射用赖氨匹林中阿司匹林和游离水杨酸含量的方法.采用的色谱柱为Hypersil BDS C18柱,流动相为甲醇-水-冰醋酸(体积比为35∶65∶3),检测波长为280 nm.阿司匹林和水杨酸的质量浓度分别为0.028 g/L~0.141 g/L和0.77 mg/L~3.85 mg/L时线性关系良好,其线性相关系数分别为0.999!9和0.999!8;加样回收率分别为99.27%(RSD=0.8%)及99.61%(RSD=1.3%).
关键词:
高效液相色谱
,
测定
,
阿司匹林
,
水杨酸
,
赖氨匹林
吕向东
,
刘焕峰
,
陈凯
,
黄凤忠
,
周洪财
,
王成华
,
祝英剑
腐蚀科学与防护技术
doi:10.3969/j.issn.1002-6495.2004.02.017
吉林乾安大情字油田自2000年投入开发生产以来,采输设备腐蚀与结垢问题暴露的日趋明显和严重.对油井产出水浸蚀性物质分析,水质均为高矿化度盐水,通过苏林法和赖兹纳稳定指数法判定油井产出水为氯化钙结垢型水质,是油田采输设备的腐蚀结垢的主要原因.
关键词:
腐蚀
,
结垢
,
原因分析
中国腐蚀与防护学报
<正> 最近收到澳洲腐蚀协会第26届会议学术委员会主席巴利昂(P.Barrian)来函,请学报代为披露该会等筹备情况如下: 此次会议共有95篇论文分11个专业组讨论,其中三分之一以上为国外投寄。中国作者占16篇。会议共开五天,自11月17至11月21日每天均进行学术报告和讨论。每一分组有一位该方面专家作主要报告。其中水处理与腐蚀控制组选定我国华南工学院讲师赖春晓作主要报告
关键词:
朱诗塔
,
周巧玲
,
金苹
,
肖瑶
色谱
doi:10.3724/SP.J.1123.2016.07022
建立了高效液相色谱同时测定枇杷叶中3种黄酮类成分的分析方法.该方法分析了不同产地枇杷叶中芦丁、槲皮素和山柰酚的含量差异.枇杷叶粉末用甲醇超声提取后,加盐酸回流,制备样品测试液.采用DiamonsilC18色谱柱(250 mm×4.6 mm,5μm),以0.4% (v/v)磷酸水溶液-乙腈为流动相,梯度洗脱.分别对7个不同产地的枇杷叶样品中的芦丁、槲皮素和山柰酚进行测定.结果表明,芦丁、槲皮素、山柰酚在各自的质量浓度范围内线性关系良好(r>0.99),加标回收率分别为96.33%、95.81%和95.80%,RSD分别为6.48%、0.90%和3.02%.该方法操作简单、分离度好、重复性高.不同产地枇杷叶中3种黄酮类成分的含量存在差异,其中芦丁的差异最大,而山柰酚的含量最稳定且在不同产地样品中均可检出,或可用作枇杷叶药材质量控制的标志成分.
关键词:
高效液相色谱
,
黄酮类
,
芦丁
,
槲皮素
,
山柰酚
,
产地
,
枇杷叶
金绍维
,
李金光
,
单会会
,
吴文彬
,
周先意
低温物理学报
doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2008.02.006
厚度为6~100 nm的(La0.6Nd0.4)0.7,Sr0.3MnO3(LNSMO)薄膜是由脉冲激光沉积生长在SrTiO3[STO(001)]衬底上.X-射线衍射(XRD)线扫描、ω-摇摆曲线和倒空间衍射显示,随着膜厚(t)的变化,薄膜的结构经历了由完全应变到部分弛豫的变化.电阻测量显示存在两个不同的厚度依赖的金属-绝缘体转变温度(Tp),对于应变的薄膜(t≤17 nm),Tp敏感地依赖于双轴应变和膜厚;而对较厚的薄膜(t≥35nm),Tp对于膜厚是较小敏感的.这个厚度依
赖的输运性的变化可被解释为菱形LNSMO的角度畸变诱导的应变和弛豫.我们的结果表明金属-绝缘体转变温度和相分离都受薄膜的应变态控制.
关键词:
外延薄膜
,
晶格失配应变
,
金属-绝缘体转变