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反演非球形粒子光学常数的理论建模

齐宏 , , 刘兵 , 阮立明

工程热物理学报

本文基于完整的辐射传输方程,结合T矩阵法和K-K关系式,建立反演非球形粒子光学常数(复折射率)的理论模型.首先以椭球粒子为例,分析了非球形粒子光学常数反演模型的适用范围,重点分析了不同尺度参数下椭球粒子的单值性和多值性问题;然后以非球形煤灰粒子为例,采用MC法进行正问题计算,所得的光谱透射率作为"实验测量值",采用本文模型进行反演,得到较好的反演结果,充分说明了本文所建立的反演模型的可行性,同时分析了测量误差对实验结果的影响.

关键词: 光学常数 , K-K关系式 , 非球形粒子 , T矩阵

基于MDA法计算水雾粒子红外隐身粒径

, 齐宏 , 青青 , 阮立明

工程热物理学报

水雾隐身技术是一种较为理想且经济适用的目标特征信号控制技术。本文从辐射传输方程出发,考虑水雾粒子的本身辐射和散射,提出以红外表观透射率评价水雾粒子的红外隐身性能。应用Modified Differential Approximation(MDA)法结合MIE理论,计算了水雾粒子红外表观透射率随水雾粒子浓度和粒径的变化关系,得到水雾粒子最佳红外隐身粒径。结果表明:水雾粒子的红外表观透射率随粒子浓度的增加而减小,但当粒子的浓度增加到一定值时,红外表观透射率基本保持不变;水雾粒子的红外表观透射率随粒径的增加先减小后增大,当探测波段为3-5μm时,水雾粒子的最佳红外隐身粒径为6μm;而探测波段为8—12Hm时,水雾粒子的最佳红外隐身粒径为12μm。

关键词: 水雾粒子 , 红外隐身 , MDA法

反演高温均-粒子系光学常数理论建模

齐宏 , 阮立明 , , 谈和平

工程热物理学报

本文提出等效透射能量比的概念,在此基础上建立反演高温均-粒子系光学常数(复折射率)的理论模型,该模型基于完整的辐射传递方程,采用Mie理论结合K-K关系式反演高温粒子的复折射率.以燃烧火焰中常见的煤灰粒子为例,通过将已知文献中煤灰粒子复折射率数据作为"真实"数据,采用MC方法进行正问题计算所得的等效透射比作为"实验测量僧",然后利用本文模型进行反演,得到较好的反演结果,充分说明了本文所建反演模型的可行性,同时分析了 测量误差对实验结果的影响,对于反演高温粒子复折射率的实验研究具有一定的理论指导意义.

关键词: 光学常数 , K-K关系式 , 高温粒子

双球聚集粒子辐射特性分析

齐宏 , 阮立明 , , 史萌 , 吕英明

工程热物理学报

基于广义Mie理论求解方法(GMM),考虑单元粒子之间的相互作用,计算了不同尺度参数不同间距的双球聚集粒子的衰减因子、散射因子等辐射特性参数,同时分析了双球聚集粒子与不考虑相互作用计算所得的辐射特性差异,分析结果表明:考虑相互作用与不考虑相互作用计算所得的双球聚集粒子的辐射特性存在着一定的差别,这种差别随粒子间距、尺度参数的变化而变化,最大偏差达30%左右.

关键词: 广义Mie理论 , 双球聚集粒子 , 辐射特性

不良分析及改善对策研究

艾雨 , 蒋学兵

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20153004.0566

通过对大量残不良样品进行分析,找到了残不良产生的原因,并基于分析结果设计了改善残的实验.通过分析发现:残不良产生的原因是彩膜侧像素与黑矩阵之间的段差过大,在摩擦工程时段差过大区域形成了摩擦弱区,摩擦弱区内的液晶分子配向较弱,导致不良产生.为降低残不良进行实验,结果显示:在彩膜侧加覆盖层可以有效降低残不良的发生率,但不适用于量产;通过采用高预倾角的配向膜材料,同时控制配向膜工程到摩擦工程的时间,可使残不良发生率由28.2%降低至0.2%,为企业的稳定高效生产奠定了基础.

关键词: , 扭曲向列型 , 预倾角 , 面板

应用先验插值校正 CT 金属伪

李铭 , 卢彦飞 , 袁刚 , 吴中毅 , 张涛

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20153006.1032

针对 CT 系统在实际应用中出现的金属伪问题,提出一种基于先验插值的金属伪校正算法。文中通过预滤波、骨骼分割和软组织恢复步骤计算先验图像,并利用先验图像的正向投影对原始投影中的金属投影区进行插值校正。应用该算法对数值仿真图像和临床 CT 图像分别进行了校正重建实验。数值仿真实验表明,用提出算法校正的结果比线性插值金属伪校正算法、归一化金属伪校正算法校正的结果更接近理想体模。临床数据实验表明:该算法的重建结果有效抑制了金属伪,清晰重建出金属边缘细节,极大地提高了重建图像的质量。

关键词: 金属伪 , 先验图像 , 预滤波 , 软组织恢复

TFT-LCD残不良的研究与改善

范恒亮 , 汤展峰 , 刘利萍 , 李静 , 黄静 , 刘岩龙

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20163103.0270

影像残留是TFT-LCD,特别是TN型产品常见的不良,对产品良率影响很大.本文从产品设计、工艺参数、工艺管控3个方面对残进行分析.发现产品设计时Data线两侧段差过大,是导致残发生的主要原因,通过增加配向膜厚度和摩擦强度值可以有效降低残,实验得出配向膜膜厚高于110 nm,摩擦强度高于5.5N,m时无残发生.通过控制配向膜工程与摩擦工程间的延迟时间在5h,摩擦工程与对盒工程间的延迟时间在10 h,并且严格管控ITO偏移量可以有效减少Panel内部电场,从而降低残.通过以上措施,对于15.6HD产品,良率提升了10%,为企业高效生产奠定基础.

关键词: , 扭曲向列型 , 配向弱区 , 内部电场

基于组态的包钢耐火配料系统设计

胡万里

耐火材料 doi:10.3969/j.issn.1001-1935.2010.01.023

介绍了利用组态作为监控,可编程控制器作为下位机,实现了耐火厂散料配料系统的自动化生产,该系统具有手动功能和自动功能,手动功能具有现场手动和上位机手动功能,自动功能具有全自动和半自动功能.该系统可实现配方和配料制度的任意更改,投资低,故障少,自动化程度高.

关键词: 组态 , 配料 , 上位机

”字型左手材料结构的设计与仿真

孙振 , 竹有章 , 何星 , 杨成莱 , 李磐石

材料科学与工程学报

针对目前由金属开口谐振环与金属杆构成的左手材料结构存在构造比较复杂、工艺实现较难的缺点,设计实现了一种基于金属条的改进结构一””字型结构.通过理论分析和电磁仿真软件Ansoft HFSS 10模拟仿真,利用散射参量法提取参数结果表明该结构可以在X波段实现介电常数和磁导率同时为负.讨论研究了该左手结构的金属条宽度、中间缺口宽度、中间条宽度三个结构尺寸参数变化对谐振频率和透射峰幅值的影响,结果表明三个参数的变化都会对二者产生影响,其中金属条宽度改变对透射峰值影响幅度相对较大,缺口宽度改变对谐振频率影响幅度相对较大.

关键词: 金属条 , 左手材料 , 负折射率 , 谐振频率 , S参数

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