欢迎登录材料期刊网

材料期刊网

高级检索

  • 论文(531)
  • 图书()
  • 专利()
  • 新闻()

CaRuO3电极对(Ba,Sr)TiO3薄膜的介电特性的影响

熊惠芳 , 唐新桂 , 易双萍 , , 蒋力立 , 陈王丽华

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2007.03.014

在Pt(111)/Ti/SiO2/Si(100)衬底上,用脉冲激光沉积工艺分别制备出了(110)外延取向生长的(Ba0.65Sr0.35)TiO3/CaRuO3(BST/CRO)异质结构薄膜;BST/CRO异质结构薄膜由纳米晶团簇组成,最大的团簇晶粒达500 nm,平均晶粒尺寸在60~80 nm,薄膜厚度为650 nm.BST/CRO异质结薄膜均为表面平滑和致密结构.BST/CRO异质结薄膜的介电常数和介电调谐率分别高达851和78.1%.与纯BST薄膜比较,用CRO作电极,增益介电常数与介电调谐率.

关键词: 脉冲激光沉积 , 钛酸锶钡薄膜 , 异质结构 , 介电调谐率

溶胶凝胶法制备掺铅钛酸钡纳米晶及其结构相变

, 蒋力立 , 唐新桂 , 周歧发 , 张进修

无机材料学报 doi:10.3321/j.issn:1000-324X.2000.05.005

采用溶胶-凝胶工艺制备了不同晶?粒大小的、掺铅(5mol%)钛酸钡(BPT)纳米晶. 用TEM、XRD和DSC研究了BPT样品?的晶粒大小、结构及其相变特性. 结果表明, 纳米晶BPT随着晶粒尺寸的减小, 由铁电四方相向顺电立方相过度,并且相变变得弥散. 其顺电--铁电相变随着晶粒尺寸的减小而消失. 另一方面, 随着晶粒尺寸的增加,其铁电四方--铁电正交相变消失,即抑制了其正交相的形成.

关键词: 溶胶-凝胶法 , 纳米晶 , 晶粒尺寸 , 结构相变

乌拉嘎金矿外围张沟矿化区隐伏矿体预测及查证

吴国学 , 陈国华 , 任云生 , 吕志刚

黄金 doi:10.3969/j.issn.1001-1277.2006.09.003

通过矿床成矿地质条件及控矿因素的研究,建立了乌拉嘎金矿床找矿标型.在张沟矿化区通过地质、地球化学、地球物理等研究工作,确定出隐伏金矿体赋存的最佳部位,并实施了工程查证,钻孔70m深处见厚3m、平均品位20.4×10-6的矿体.进一步证实了预测方法的有效性,取得了满意的成果.

关键词: 隐伏矿体 , 预测 , 查证 , 乌拉嘎金矿 , 沟矿化区

洛宁庄金银多金属矿床地质特征及找矿潜力分析

王宏运

黄金 doi:10.11792/hj20150804

庄金银多金属矿床位于熊耳山西段,通过对矿床地质特征及化探异常研究,认为本区金银矿脉分布具有分带性,且与异常分布相吻合,受区内拆离断层和北东向脆性断裂控制,矿床类型为构造蚀变岩型矿床,并对区内找矿标志进行了总结,对区内找矿潜力进行了分析。

关键词: 矿床特征 , 化探异常 , 金银矿床 , 找矿标志 , 找矿潜力 , 庄金银多金属矿床

人、、材的命运

肖纪美

材料科学与工程学报 doi:10.3969/j.issn.1673-2812.2004.03.001

从系统的内因(结构)和外因(环境)浅谈人、人才和材料的命运.采用静态的概念分析人、人才和材料,并讨论命、运和命运;采用动态的反馈分析,提出质变的新反馈,并示例地简介材料中的耗散结构.从哲学角度总结和强调社会系统和自然系统的相似性.

关键词: 命运 , 系统 , 环境 , 反馈 , 耗散结构

40MnBH的研究

张海 , 于辉 , 姚风臣 , 刘德富

机械工程材料 doi:10.3969/j.issn.1000-3738.2001.06.005

利用逐步回归分析的方法,确定了40MnBH钢的淬透性与化学成分之间的回归方程,以便分析化学成分对淬透性的影响程度,并应用概率论推导出求解成分内控规范的联立方程,使淬透性合格概率大于97.5%.

关键词: 逐步回归 , 淬透性 , 联立方程 , 概率

激波内部的导热问题

黄为民 , 刘夷平

工程热物理学报

本文从实际气体有粘流的激波厚度解,用分子运动论讨论了激波内部导热问题,并且通过重组诺流和瑞利流的迭加提出了激波中导热问题的物理模型和相应的定态激波非平衡态不可逆过程的模型.证明了激波是一种负熵流波,是依靠激波波速输运热流的热波.

关键词: 激波 , 导热 , 不可逆 , 非平衡态 , 热波

Hg1-xMnxTe晶片电学参数的测量及分析

王泽温 , 介万奇 , 李宇杰 , 谷智

功能材料

采用德堡法分别在77K和室温下对多个Hg1-xMnxTe晶片的电学性能进行了测量,发现部分晶片在77K下的导电类型为p型,而在室温下却为n型.通过理论分析对此现象进行了解释.分析表明:Hg1-xMnxTe晶片中电子迁移率与空穴迁移率的比值较大和Hg1-xMnxTe的禁带较窄是造成晶片导电类型转变的主要原因.对所测其它电学参数的理论分析表明德堡法不适合用于Hg1-xMnxTe晶片室温时的载流子浓度和迁移率的测量,但仍可用其对晶片室温时的电阻率和霍尔系数进行测量.

关键词: Hg1-xMnxTe , 德堡法 , 导电类型 , 霍尔系数

  • 首页
  • 上一页
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5
  • 下一页
  • 末页
  • 共54页
  • 跳转 Go

出版年份

刊物分类

相关作者

相关热词