温磊
,
王峰
,
蔡良元
,
嵇培军
,
白树城
宇航材料工艺
doi:10.3969/j.issn.1007-2330.2010.04.013
选用玻璃纤维织物/环氧树脂预浸料以及配套体系材料,采用三步成型的球墨铸铁阴模热压罐固化工艺和专用模具固化蜂窝的方法,研制了机载大曲率、多频段C夹层结构天线罩.经过电性能测试和静力试验,结果表明,该罩体的选材、结构设计和工艺过程是可行的.电性能测试中天线罩最小透波率为84%,全部电参数均满足要求;静力试验中天线罩通过了200%设计载荷的加载,满足结构设计要求.
关键词:
机载
,
大曲率
,
多频段
,
天线罩
,
C夹层结构
崔溢
,
赵继承
,
杨明
,
蔡良元
宇航材料工艺
doi:10.3969/j.issn.1007-2330.2009.03.012
为满足耐高温(150℃)宽频带(18~40 GHz)的需要,选用石英纤维织物、聚砜改性环氧树脂和Nomex蜂窝芯为主要原料研制机载雷达罩,其单程平均功率透过系数≥87%,单程最小功率透过系数≥76%,力学性能满足飞行安全要求.
关键词:
石英纤维织物
,
聚砜改性环氧
,
耐高温
,
宽频
,
机载雷达罩
蔡良元
,
王清海
,
温磊
,
崔溢
玻璃钢/复合材料
doi:10.3969/j.issn.1003-0999.2010.05.016
飞机的气象雷达天线罩一般装载于飞机的机头部位,该部位的非金属材料件-天线罩对雷击比较敏感,容易遭受雷击,雷击造成天线罩及罩内雷达天线损坏,对飞行安全造成了极大的隐患,因此雷达天线罩必须采取有效的雷电防护措施、保护天线罩和罩内设备安全.本文介绍了某飞机气象雷达天线罩的雷电防护措施、雷电防护系统的设计原则和设计过程、各种雷电分流条的选择及优缺点、雷电防护系统在天线罩上的安装技术等,并按照航空安全标准要求进行了雷电防护试验,试验结果表明采取有效的雷电防护措施可以保护气象雷达天线罩和罩内天线设备.
关键词:
雷达天线罩
,
雷电防护
,
分流条
蔡良元
,
王青海
,
张强
宇航材料工艺
doi:10.3969/j.issn.1007-2330.2010.02.010
通过采用了口径积分-表面积分-自适应网格(AI-SI-AG)分析方法进行天线罩的电性能设计,选用先进透波材料体系,优化制造工艺,研制了一种覆盖X波段到Ka波段超宽频天线罩,测试结果表明该天线罩在宽频范围内电性能稳定,满足了总体性能指标要求.
关键词:
超宽带
,
天线罩
,
C型泡沫夹芯
,
分步固化工艺
程军
,
杨学明
,
杨晓勇
,
王昌燧
,
王巨宽
稀土
doi:10.3969/j.issn.1004-0277.2000.04.001
本文利用ICP-MS对新石器时代良渚文化瑶山遗址出土的古玉器进行了稀土元素分析,并与产于新疆和阗玉石矿的软玉进行了对比.结果表明,瑶山古玉器的稀土元素配分型式、特征比值均明显不同于和阗玉,说明良渚文化玉器的玉石应选自当地,这与李约瑟[1]教授认为中国古玉器都源于新疆和阗的论点不同.
关键词:
良渚玉器
,
ICP-MS
,
稀土元素(REE)
,
产地分析
梁涛
,
卢仁
,
吕胜利
,
王书军
,
刘明月
,
张四维
黄金
doi:10.3969/j.issn.1001-1277.2010.09.008
矿山金属平衡通过矿山金属产量实现了地质资源储量模型与矿山实际生产数据有机的结合,它涉及到储量评估、采矿计划、品位控制、矿山测量、选矿流程和产品销售等各个矿山生产环节.以蔡家营矿为例详细介绍了矿山金属平衡的操作步骤,实施矿山金属平衡不但可以评估矿山生产运作过程中财务现金流的风险,而且更重要的是运用实际品位数据来检验矿体矿块模型对采矿品位预计的可信度.
关键词:
矿山金属平衡
,
Micromine软件
,
蔡家营矿
刘明宝
,
杨超普
,
阎赞
,
印万忠
有色金属工程
doi:10.3969/j.issn.2095-1744.2016.05.013
在工艺矿物学研究的基础上对含金0.084 g/t、硫2.74%的陕西蔡川铜尾矿进行了金的强化回收技术研究.结果表明,含金铜尾矿经过一次粗选、一次精选、一次扫选闭路流程可获得硫品位43.34%、回收率44.30%的硫精矿,其中金品位为1.26g/t、回收率为42.06%,达到计价标准.另外矿石中的银和镓元素也得到了一定程度的回收.理论分析结果显示,组合药剂的使用可大幅度提高含金矿物的选别效果,Y-89和丁基铵黑药的组合属于正—负型协同药剂,药剂基团中硫原子的Mulliken电荷分布是影响捕收剂选别性能的关键因素.
关键词:
铜尾矿
,
协同药剂
,
Mulliken电荷
刘晓伟
,
郭会斌
,
李梁梁
,
郭总杰
,
郝昭慧
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20142904.0548
纯铝薄膜被广泛用作TFT LCD的金属电极,但纯铝薄膜在热工艺中容易产生小丘,对TFT的阵列工艺的良率有较大影响.本文用磁控溅射的方法在不同温度下沉积纯铝薄膜作为薄膜晶体管的栅极,并通过电学检测、扫描电子显微镜和应力测试等方法对不同温度下沉积的纯铝薄膜的小丘生长情况进行了研究.实验结果表明:纯铝成膜温度提高,薄膜的晶粒尺寸增大,退火后产生小丘的密度和尺寸明显降低,温度应力曲线中屈服点温度也相应提高.量产中适当提高成膜温度,可以有效抑制小丘的发生,提高TFT阵列工艺的量产良率.
关键词:
薄膜晶体管阵列工艺
,
磁控溅射
,
纯铝薄膜
,
小丘
,
量产良率