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铝硅合金轧制中增强体颗粒应力集中数值模拟

, 周凯 , 车万博 , 铉佳平 , 车春雨

材料工程 doi:10.3969/j.issn.1001-4381.2013.03.010

针对铝硅合金轧制过程中,硅晶粒相对铝基体变形抗力大产生应力集中的问题.利用有限元方法,建立了针对轧制过程中增强体颗粒的有限元模型,研究了硅晶粒及铝基体应力、应变云图及曲线.解决了普通实验无法定量分析轧制过程中增强体颗粒受力的问题.结果表明:临近晶粒处铝基体应变值大于其他部位铝基体且远大于硅晶粒处应变,说明在晶粒处有金属堆积现象;晶粒处应力值大于铝基体,说明由于晶粒附近的金属堆积,导致应力集中现象的产生.模拟结束后,通过扫描电镜观察拉伸试样断口形貌及能谱分析间接验证数值模拟方法的可行性和模拟结果的正确性.

关键词: 铝硅合金 , 增强体颗粒 , 金属堆积 , 应力集中 , 数值模拟

含氟共聚聚酰亚胺的合成与性能研究鲁云华,洪斌,迟海军,董岩,肖国勇,胡知之

鲁云华 , 洪斌 , 迟海军 , 董岩 , 肖国勇 , 胡知之

绝缘材料

以1,4-双(4-氨基-2-三氟甲基苯氧基)苯(6FAPB)为含氟二胺单体,均苯四甲酸二酐(PMDA)和1,2,3,4-环丁烷四酸二酐(CBDA)为二酐单体,经低温溶液缩聚反应得到聚酰胺酸,再经热酰亚胺化处理制备出含氟共聚聚酰亚胺(CPI)薄膜.采用红外(IR)、紫外(UV-Vis)、溶解性测试等对CPI进行结构与性能表征,考察两种二酐单体的不同物质的量之比对共聚聚酰亚胺光学性能和溶解性的影响.结果表明:随着脂环二酐CBDA摩尔配比的增加,CPI薄膜在410 nm处的光透过率逐渐增加,薄膜颜色逐渐变浅,溶解性有所改善.

关键词: 聚酰亚胺 , 共缩聚 , 含氟 , 结构与性能

中国专利信息

电镀与涂饰

本期刊登的是2012年4月份国家知识产权局公布的有关表面处理系列类专利信息。如需专利全文,请与我部联系(联系人:吴海;电话:020-61302516)。

关键词:

指数律衰减电流极化电位响应的解析及其在测定金属的瞬时腐蚀速度方面的应用

, 曹楚南 , 吕明 , 林海潮

腐蚀科学与防护技术

指数律衰减电流极化电位响应的解析及其在测定金属的瞬时腐蚀速度方面的应用黄良,曹楚南,吕明,林海潮(中国科学院金属腐蚀与防护研究所腐蚀科学开放研究实验室、沈阳110015)发表于《腐蚀科学与防护技术》,1992;4:264.获中国腐蚀与防护学会第三届全国青年腐蚀科技论文讲评会优秀奖黄良,1996年3月生于辽宁省法库县,1983年考入西安交通大学材料科学与工程系金属材料及热处理专业学习.1990年6月获该校硕士学位,同年考入中国科学....

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718HL中板边部裂纹成因与控制

柳泽民

连铸

针对718HL中板边部裂纹的形成机制进行研究,认为微裂纹不是轧制时产生的新裂纹,而是由于铸坯内弧横裂纹扩展形成。造成横裂缺陷的主要原因是铸坯却不均匀。通过保证连铸关键设备功能精度、优化二冷配水工艺以及加强保护浇铸,能够有效降低中板边裂缺陷。

关键词: 中板 , 边部裂纹 , 铸坯 , 横裂

金属学报 第二卷 1957 目录

金属学报

第一期高路不锈翎中裂较的研究········……,..........................................…… ·········~······一李薰、贺潜菊、张振芳、孺梦菊、严媒、蕙田(l)高煊煊缸内化学平衡的考察n.矽一硫、矽一碳和矽一锰平衡······……都元满(13)从铅鼓夙攘烟崖富集锡拜回收铅的研究·······································…… ·············....

关键词:

氢蚀程度对20G钢K_(IC)及△K_(th)的影响

郦建立 , 李晓刚 , 谢根栓 , , 姚治铭 , 李劲 , 柯伟

中国腐蚀与防护学报

氢蚀程度对20G钢K_(IC)及△K_(th)的影响郦建立,李晓刚,谢根栓,李,姚治铭,李劲,柯伟(中国科学院金属腐蚀与防护研究所腐蚀与防护国家重点实验室沈阳110015)(抚顺石油学院,抚顺石油三厂)1引言氢腐蚀(HA)使材料的力学性能和疲劳断裂性能严重恶化,是化学工业、石油化工、煤转化工业临氨装置主要的损坏形式。对临氢后的2.25Cr-IMo$疲劳性能、断裂性能的研究结果表明,氢蚀使西K?...

关键词: null , Fracture toughness , Fatigue threshold , 20G carbon steel

“液态镓-銻系合金中组分銻的蒸气压”一文的討論

金属学报

<正> 朱锡熊:由彭年和莫金璣同志所作“液态鎵-锑系合金中组分锑的蒸气压”一文的突验数据,可以进一步了解到有关Ga-Sb溶液的热力学性质。 、莫在720°,750°和780℃测定了x_(Sb)=0.30-1.00成分范围的Ga-Sb溶液中组元Sb的蒸气压,因原数据比较散乱,欲根据其原始数据进行分析,需要先对数据进行处理。先按原始数据画出三个温度的lg P_(Sb_4)-x_(Sb)的光滑曲线,由曲线读出不同x_(Sb)成分时的lg P_(Sb_4)值。固定溶液的成分,再以lg P_(Sb_4)对1/T作直线,由直线读出该成分对应于上述三个温度的1g P_(Sb_4),也即组元Sb的蒸气压。两次处理的曲线示于图1,取出的组元Sb的蒸气压(毫米汞柱)列于表1。

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