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1Cr18Ni9不锈钢表面阳极氧化膜的AES研究

林荣富 , 戴道宣 , 董树忠 , , 罗兴华

金属学报

用Auger电子能谱仪(AES)研究1Cr18Ni9不锈钢表面阳极氧化膜的组分分布。用Ar~+溅射剥层所作的剖面分析发现过钝化阳极氧化膜的表面层中含有大量的Mo与Cr的离子,中间层基本上是一个富Cr的氧化层,Fe处于中性态;然后逐渐过渡到基体内,在过渡层中氧逐渐减少到零。与硝酸钝化膜和自然钝化膜中元素的剖面分布相比,过钝化阳极氧化膜的富Cr区要比后二种膜宽得多,膜中Cr的氧化程度也比较完全。根据这些特点讨论了过钝化阳极氧化膜抗腐蚀性能比硝酸钝化膜优良的原因。

关键词:

含磷Cr-Mn-Si和Ni-Cr钢回火脆性的研究——磷在晶界偏聚及添加La的作用

杨亦石 ,

金属学报

用Auger电子能谱(AES)研究了含磷450ppm的35CrMnSi和35CrNi3钢回火脆性与杂质元素磷及合金元素Ni,Cr,Mn晶界偏聚的关系。含磷钢的回火脆性主要是由磷在原奥氏体晶界偏聚所致。经1200℃油淬、625℃回火1h水冷的所谓“韧态”,磷已在晶界大量偏聚,钢已明显脆化;经阶梯冷却脆化处理后,晶界磷浓度成倍增加。在阶梯冷却脆化期间,Ni-Cr钢中磷的晶界偏聚速率比Cr-Mn-Si钢大。试验钢的FATT与晶界含磷量成正比;Ni-Cr钢中晶界Ni与磷呈线性关系。试验钢中加入La能够减少相同状态下的晶界磷浓度,从而改善钢的回火脆性。

关键词:

微量硫对高速钢热塑性的影响

罗迪 , 邢国华 ,

金属学报

本文研究了微量硫对W14Cr4VMn高速钢热塑性的影响:热扭转实验证实微最硫仍能危害钢的热塑性;Auger能谱仪实验发现,即使钢中的硫含量降低到0.002wt-%时,硫仍偏聚在晶界上。本文讨论了硫偏聚和微量硫危害热塑性的原因。

关键词:

经磷酸溶液短时处理6Cr13钢表面膜的研究

王志杰 , 周佩德 ,

中国腐蚀与防护学报

研究了6Crl3不锈钢经磷酸溶液短时处理后耐蚀性的变化以及磷酸浓度、外加铜离子对耐蚀性能的影响。使用AES和XPS技术分析了6Crl3钢经这种处理后表面膜的化学组成和结构。结果表明,6Crl3钢经处理后耐蚀性的提高与表面膜内铬的富集有关,其表面膜的组成和结构则与磷酸溶液的浓度有关。

关键词:

开封济河水系底泥重金属污染与潜在生态风险评价

王洪涛 , 张俊华 , 张天宁 , 姜玉玲 , 丁少峰 , 郭廷忠

环境化学 doi:10.7524/j.issn.0254-6108.2016.08.2015123101

济河水系开封段底泥为研究对象,沿河采集75个底泥样品,测定了样品中重金属Cd、Cr、Cu、Ni、Pb和Zn的含量,并采用富集系数法分析重金属富集污染程度和潜在生态风险指数法评价重金属的潜在生态风险.结果表明,济河开封段底泥Cd、Cr、Cu、Ni、Pb和Zn平均含量分别为24.51、67.86、290.65、28.46、115.34、1936.95 mg·kg-1,远高于我国潮土背景值.富集系数分析表明,底泥各重金属污染程度由高到低依次为:Cd(146.10) >Zn(19.62)> Cu(9.89) >Pb(3.83) >Cr(0.89) >Ni(0.88),其中Cd、Cu、Zn已显著富集污染,Cr、Ni无明显富集污染.生态风险评价结果表明,底泥各重金属平均潜在生态风险系数的大小顺序依次为:Cd>Cu>Zn>Pb>Ni>Cr,6种重金属综合潜在生态风险指数(RI)平均值为7259.21,属于很强生态风险,RI“很强”等级样点主要分布在黄汴河、化肥河、济河下游及马家河下游河段,镉是最主要的潜在生态风险因子.

关键词: 开封市 , 济河 , 底泥 , 富集 , 潜在生态风险

渚文化玉器的稀土元素特征及其考古学意义

程军 , 杨学明 , 杨晓勇 , 王昌燧 , 王巨宽

稀土 doi:10.3969/j.issn.1004-0277.2000.04.001

本文利用ICP-MS对新石器时代渚文化瑶山遗址出土的古玉器进行了稀土元素分析,并与产于新疆和阗玉石矿的软玉进行了对比.结果表明,瑶山古玉器的稀土元素配分型式、特征比值均明显不同于和阗玉,说明渚文化玉器的玉石应选自当地,这与李约瑟[1]教授认为中国古玉器都源于新疆和阗的论点不同.

关键词: 渚玉器 , ICP-MS , 稀土元素(REE) , 产地分析

磁控溅射成膜温度对纯铝薄膜小丘生长以及薄膜晶体管阵列工艺率的影响

刘晓伟 , 郭会斌 , 李梁梁 , 郭总杰 , 郝昭慧

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20142904.0548

纯铝薄膜被广泛用作TFT LCD的金属电极,但纯铝薄膜在热工艺中容易产生小丘,对TFT的阵列工艺的率有较大影响.本文用磁控溅射的方法在不同温度下沉积纯铝薄膜作为薄膜晶体管的栅极,并通过电学检测、扫描电子显微镜和应力测试等方法对不同温度下沉积的纯铝薄膜的小丘生长情况进行了研究.实验结果表明:纯铝成膜温度提高,薄膜的晶粒尺寸增大,退火后产生小丘的密度和尺寸明显降低,温度应力曲线中屈服点温度也相应提高.量产中适当提高成膜温度,可以有效抑制小丘的发生,提高TFT阵列工艺的量产率.

关键词: 薄膜晶体管阵列工艺 , 磁控溅射 , 纯铝薄膜 , 小丘 , 量产

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