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用于天文成像探测的IRFPA性能参数测试

冯志伟 , 杨潇 , 白先勇 , 段帷 , 宋谦 , 吴宏 , 张志勇

影像科学与光化学 doi:10.7517/j.issn.1674-0475.2017.02.140

天体的红外成像探测在天文学领域中有其特殊和重要的作用,高性能红外探测器是红外天文观测的关键器件,因此红外焦平面阵列探测器性能参数的测试评价对于红外天文观测具有非常重要的意义.针对天文应用的特殊性,通过分析红外焦平面阵列(Infrared focal plane array,IRFPA)探测器的特点,给出了增益、读出噪声、线性和暗流等性能参数的测试原理和方法,建立了测试平台,该测试平台可实现1~14 μm波长范围的IRFPA探测器性能参数测试;完成了一台采用国产3~5μm HgCdTe芯片研制的IRFPA探测器性能参数的测试.测试结果表明,该IRFPA探测器的线性度非常好,可以达到99.9%以上,但读出噪声和暗电流较大,与国外为天文观测研制的高性能探测器相比尚有很大的差距.

关键词: 天文 , IRFPA探测器 , 性能参数

成像级CdSe中红外波片的表面处理工艺研究

杨辉 , 张志勇 , 冯志伟 , 熊祝韵 , 曾体贤

影像科学与光化学 doi:10.7517/j.issn.1674-0475.2017.02.168

本文利用改进的垂直无籽晶气相升华法生长出尺寸达Φ30×40 mm的优质硒化镉(CdSe)单晶体.解理晶体,通过X射线衍射仪测试精确的获得(001)晶面.然后定向切割、研磨、抛光,获得了尺寸为20×20×3 mm3的CdSe中红外波片初胚.以弱碱性溶液与刚玉粉的混合液作为抛光液,利用化学机械抛光法对CdSe中红外波片进行表面抛光处理.结果显示,抛光处理有效的减少了波片表面的损伤层、划痕及结构缺陷,晶片表面的粗糙度降低,在2~20μm波段透过率较高(达到70 %),满足中红外波片的应用需求.

关键词: 硒化镉晶体 , 中红外波片 , 化学机械抛光

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