欢迎登录材料期刊网
伍春燕 , 张海燕 , 何艳阳 , 梁礼正 , 朱艳娟 , 张春华
材料科学与工程学报 doi:10.3969/j.issn.1673-2812.2001.03.018
本文报道了锡掺杂C60薄膜样品的扫描电镜,X射线衍射,紫外可见吸收光谱和电阻随温特性的测量结果;显示样品由纳米级颗粒组成,为面心立方结构,掺杂锡原子在禁带中形成施主能级,电阻随温度增加呈指数衰减,霍耳效应证实为N型半导体.
关键词: 锡掺杂 , 紫外可见光吸收 , 电阻