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Eu3+,Tb3+掺杂对RF磁控溅射ZnO薄膜结构的影响

郭冠军 , 罗莉 , 戴强钦 , 黄方映 , 姚丽丽 , 董国帅

人工晶体学报

利用RF磁控溅射技术,不同条件下在不同衬底上制备了纯ZnO及Eu3+,Tb3+共掺ZnO薄膜.研究了薄膜的衬底、沉积时间和衬底温度对ZnO薄膜结构及形貌的影响.使用X射线衍射仪(XRD)对样品的结构进行了表征,结果表明:玻璃和石英衬底上的薄膜分别在300℃、镀膜0.5h和常温下、镀膜lh时薄膜具有良好的c轴择优取向,单品质量较好;而硅衬底上的薄膜在300℃、镀膜lh时具有良好的(103)轴择优取向,单品质量略有降低.

关键词: 磁控溅射 , ZnO薄膜 , 溅射时间 , 衬底温度

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