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图形化的衬底电极改善碳纳米管的场发射特性

吕文辉 , 宋航 , 金亿鑫 , 魏燕燕 , 郭万国 , 曹连振 , 陈雷锋 , 赵海峰 , 李志明 , 蒋红 , 缪国庆

功能材料

用电泳法将碳纳米管分别淀积到图形的和平面的ITO(铟锡氧化物)电极上作为场发射阴极并比较性的研究了它们的场发射特性.实验结果显示,相对于平面的衬底电极,斑条的ITO电极能够有效的改善碳纳米管的场发射特性.通过电场的数值计算,场发射特性的改善起源于斑条的ITO电极自身的表面电场增强引起了碳纳米管表面电场的两级放大.采用图形化衬底电极去制备碳纳米管阴极是改善碳纳米管场发射特性的一个简单、有效途径.

关键词: 碳纳米管 , 场发射 , 图形化的衬底电极 , 两级场放大

碳纳米管场发射阴极的制备及其场发射特性

吕文辉 , 宋航 , 金亿鑫 , 魏燕燕 , 郭万国 , 曹连振 , 陈雷锋 , 赵海峰 , 李志明 , 蒋红 , 缪国庆

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2008.06.008

采用电泳法将碳纳米管组装到电化学淀积的银台阵列上作为场发射阴极并研究了它的场发射特性.场发射特性测试结果表明:该阴极具有优异的场发射特性,开启电场为2.8V/μm,在应用电场为5.5V/μm时,发射电流密度达到1.7mA/cm2.具有优异的发射性能的原因可以归结到银台的边缘和银台类山状的表面增强了碳纳米管的场致电子发射.该阴极制备工艺简单、发射特性优异,且容易实现大面积制备,可以应用到大面积场发射显示器件中.

关键词: 碳纳米管 , 场发射阴极 , 银台阵列 , 电泳淀积 , 电化学淀积

HFCVD法制备SiC材料及室温光致发光

王辉 , 宋航 , 金亿鑫 , 蒋红 , 缪国庆 , 李志明 , 赵海峰

液晶与显示 doi:10.3969/j.issn.1007-2780.2004.06.010

利用热丝化学气相沉积法(HFCVD)以CH4和SiH4作为反应气体在Si衬底上制备了SiC薄膜.用X射线衍射(XRD)、傅立叶红外吸收谱(FTIR)等手段对样品进行了结构和组分分析,分析结果表明已经在Si衬底上制备了SiC薄膜.对所制备的SiC薄膜进行了光致发光测试,在室温下观察到了薄膜峰值位于417 nm和436 nm的较强的可见光发射,认为这两个相近的蓝光发射起源可能是光激发载流子从SiC晶粒核心激发,然后转移到SiC晶粒表面发光中心上的辐射复合.

关键词: 光致发光 , 碳化硅 , HFCVD

非致冷In0.53Ga0.47 As/InP红外探测器研究

缪国庆 , 殷景志 , 金亿鑫 , 蒋红 , 张铁民 , 宋航

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2005.06.015

采用LPMOCVD技术生长了InGaAs红外探测器器件结构材料,其晶格失配为2.19×10-4.利用锌扩散制备探测器单元器件,光谱响应范围为0.90~1.70μm,在1.95V偏压下,暗电流为5.75×10-5A,在反向偏压为-5V时,电容为6.96×10-12F.探测器波段探测率为2.08×1011cmHz1/2W-1.

关键词: 金属有机化学气相沉积 , 铟镓砷 , 探测器

多孔硅的高效可见光发射来自其表面

周咏东 , 金亿鑫

无机材料学报

用扫描电镜继续对发光多孔硅的阴极射线发光进行了系统的研究,得到了其阴极荧光发射部位、强度分布显微照片,发现在样品的表面层脱落处(暴露着多孔层大量微孔)无阴极射线发光产生,只有表面层未脱落处才有阴极射线发光;对样品的截面实验研究同样清楚地表明多孔硅样品的阴极射线发光只来源于其表面层,多孔层、硅单晶衬底区域不发生阴极射线发光.实验还提供了阴极射线发光强度在截面上随深度变化情况显微照片.阴极射线发光光谱表明其光谱峰值位置在680nm处,相似于多孔硅的光致发光.实验结果再次表明多孔硅的可见光来源于其表面层中的荧光物质.

关键词: 多孔硅 , photoluminescence , cathodoluminescence , SEM

SrWO4薄膜的电化学制备及室温光致发光特性

高道江 , 肖定全 , 金亿鑫 , 毕剑 , 余萍 , 赖欣

功能材料

在室温条件下,采用恒电流电化学方法直接在钨片基体上制备了白钨矿结构的SrWO4晶态薄膜.电化学反应的工艺参数为:电流密度为1mA/cm2、电解液的pH值为12.5、电化学处理时间为1.5h.采用XRD、SEM、XPS技术对制备的SrWO4薄膜进行了表征;首次测试了制备的SrWO4薄膜的室温光致发光光谱,结果表明SrWO4薄膜受到波长为325nm的激光激发后,在400nm附近有一较强的发射光谱,同时在450~580nm波段之间有一个宽的谱带.

关键词: SrWO4薄膜 , 电化学制备 , 白钨矿结构 , 光致发光

扫描透射电镜对GaInAsSb/GaSb异质结截面的研究

张子旸 , 张宝林 , 周天明 , 蒋红 , 金亿鑫 , 李树玮 ,

功能材料

报道了用STEM(扫描透射电子显微镜)对GaIn-AsSb/GaSb异质结的截面不同部分进行分析和研究的初步结果.STEM图像表明,在四元合金GaInAsSb与衬底GaSb的晶格常数不相同时,将会由于晶格的不匹配而产生失配位错和层错,这些缺陷是对应力的一种释放形式,包括60°位错、90°位错和堆垛层错,并且发现只有90°位错才会在外延层表面产生脊.

关键词: GaInAsSb , 位错 , 层错 , STEM

MOCVD-InAs/GaSb DBR结构材料的特性研究

蒋红 , 金亿鑫 , 宋航 , 缪国庆

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2005.06.012

本研究采用MOCVD技术在GaSb衬底上制备InAs与GaSb交替生长层构成的分布布喇格反射镜(DBR)材料.由于InAs与GaSb材料晶格匹配良好,且折射率差较大,因此用这两种材料交替生长构成的DBR结构,在较低生长周期时即可获得较高的反射率.将其引入共振腔增强型红外探测器结构,做为共振腔的腔体,将大大改善器件性能,实现红外光的高灵敏度室温探测.根据多膜增反原理,膜层反射率随膜层周期增加而增加,理论计算结果显示InAs/GaSb DBR结构工作波长为2.4μm,周期为22时,膜层反射率即可高于80.11%.我们用扫描电子显微镜,X-ray射线衍射,反射光谱测量等分析手段,对InAs/GaSb DBR结构材料的物理性能进行表征.结果表明,我们已经成功获得高质量的晶格匹配的InAs、GaSb单晶薄膜,以及InAs/GaSb交替生长组成的不同周期的DBR结构材料.反射光谱测量显示,InAs/GaSb DBR反射率随膜层周期数增加而增加,当InAs/GaSb DBR周期数为22时,其反射率约为44.27%.

关键词: MOCVD , 分布布喇格反射镜 , 反射率

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