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(La0.75Sm0.25)2Zr2O7纳米粉体的高温动态XRD研究

蔡辉 , 张锦化 , 柯昌明 , 吴红丹 , 于吉顺

耐火材料 doi:10.3969/j.issn.1001-1935.2013.03.005

采用化学共沉淀-高温煅烧技术制备的具有烧绿石结构的(La0.75Sm0.25)2Zr2O7纳米粉体,其平均晶粒尺寸约为47 nm,其晶体结构为等轴晶系,空间群为F d-3m,晶胞参数a0=1.075 nm.采用高温动态XRD技术研究了(La0.75Sm0.25)2Zr2O7纳米粉体的热稳定性、热膨胀性及抗烧结性能.结果表明:(La0.75Sm0.25)2Zr2O7纳米粉体具有良好的热稳定性,高温下晶体结构仍保持稳定,1 400℃的热膨胀系数为9.7 ×10-6 K-1;具有优异的抗高温烧结性能,1 250℃以上纳米晶粒才开始快速生长,1 400℃时,晶粒尺寸为132 nm.

关键词: (La0.75Sm0.25)2Zr2O7纳米粉体 , 高温动态XRD分析 , 热稳定性 , 热膨胀性 , 抗烧结性

X射线反射(XRR)对薄膜样品厚度的研究

于吉顺 , 陆琦 , 肖平 , 张锦化

功能材料

X射线的反射(XRR)测量法可精确地确定平行层及其薄膜结构,如测定光滑基体上聚合物膜的特性,包括层的厚度、密度和界面粗糙度.使用X'Pert X射线粉晶衍射仪对单晶硅片上的有机薄膜镀层进行了其厚度的精确测定,测定结果为该单晶硅片上的有机薄膜有3层,其厚度分别为5.0、60.2和245.3nm.并用倒易向量方法计算和验证了测量结果的正确性.还讨论了用X射线反射测定薄膜结构的一些影响因素.

关键词: X射线反射 , 有机薄膜 , 薄膜厚度测定

氧化钴掺杂双相凝胶中莫来石各向异性生长机理

张锦化 , 柯昌明 , 吴红丹 , 张素新 , 于吉顺

稀有金属

对氧化钴掺杂的双相凝胶中莫来石的晶化及各向异性生长行为进行研究,结果表明:氧化钴能够降低双相凝胶的莫来石化温度,促进莫来石的各向异性生长.莫来石晶粒的长径比取决于煅烧条件.氧化钴的掺杂量为3%(质量分数)时,双相凝胶的莫来石化温度降低到1200℃.莫来石的各向异性生长行为符合经验公式∥-G0n=kt,晶粒沿轴向和横向的生长指数分别为3和3~4,生长活化能分别为978和1125 kJ/mol.莫来石晶粒沿∥[001]和⊥[001]方向生长速率常数分别为3.4和1.0,晶体生长机理符合二维形核台阶生长机制.

关键词: 各向异性生长 , 活化能 , 莫来石

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