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金刚石/银复合材料:制备、电泳沉积及场发射性能研究

曾乐勇 , 王维彪 , 梁静秋 , 夏玉学 , 雷达 , 陈松 , 刘丽丽 , 赵海峰 , 任新光

液晶与显示 doi:10.3969/j.issn.1007-2780.2007.02.006

采用化学镀银的方法,制备了银包覆的金刚石复合材料,并利用场发射扫描电子显微镜(FESEM)、X射线衍射仪(XRD)和拉曼(Raman)光谱对样品的形貌和微结构进行了表征.利用电泳沉积的方法,制备了均匀的金刚石/银复合材料薄膜,场发射测试结果表明,在22 V/μm的电场下,金刚石/银复合材料的发射电流密度可达23.7 μA/cm2;而在26 V/μm的电场下,高压金刚石薄膜的发射电流密度仅为0.2 μA/cm2.与高压金刚石薄膜的场发射结果相比,金刚石/银复合材料的场发射性能有明显的提高.银的存在使银与金刚石界面处形成电子发射区,在外加电场作用下,该区域电子优先隧穿表面势垒逸出到真空,形成场致电子发射.

关键词: 场发射 , 金刚石 ,

新型掺铒钆硼硅酸盐玻璃的制备和光学性质的研究

孙江亭 , 张家骅 , 陈宝玖 , 吕少哲 , 任新光 , 王笑军

中国稀土学报

用高温熔融法制备了成分为Gd2O3,SiO2,B2O3和Na2O的新型玻璃体系,探索了该玻璃体系的成玻范围,发现该系统在B2O3:20%以上,SiO2:0~50%,Gd2O3:0~30%的范围内均可形成完全透明的玻璃.在Gd2O3:30%,B2O3:60%和SiO2:60%,B2O3:30%两个组分附近时玻璃轻微失透.除此以外,在其他组分实验上没有得到玻璃.根据差热分析的数据,计算得到的玻璃析晶倾向参数β在0.32~1.76之间,说明含10%Gd2O3的钆硼硅酸盐玻璃具有较强的形成能力;利用McCumber理论计算出样品的吸收和受激发射截面,并从玻璃1.5 μm的吸收光谱出发拟合出了J-O参数,进而计算了Er3+离子各相关能级的理论振子强度、实验振子强度和自发辐射速率等参数.同时,用Er3+离子1.5 μm发射光谱的半高全宽与其峰值发射截面的乘积值对含10%Gd2O3钆硼硅酸盐玻璃1.5μm发射的增益带宽作出了表征,结果表明,含10%Gd2O3玻璃体系的FWHM×σepeak值均大于已有报道的硅酸盐、磷酸盐和锗酸盐玻璃,其中最大值和氧氟硅酸盐玻璃的相差不多.

关键词: 铒离子 , 钆硼硅酸盐玻璃 , 析晶倾向参数β , J-O参数 , 发射截面 , 稀土

X-射线衍射与火焰原子吸收法联合测定ZnS:Mn薄膜屏中Mn含量

任新光

液晶与显示 doi:10.3969/j.issn.1007-2780.2008.05.024

提出一种X-射线衍射(XRD)与火焰原子吸收法(FAAS)联合测定ZnS:Mn交流电致发光(ACEL)薄膜中Mn含量的新方法.首先用XRD测定ZnS薄膜的结构,判断薄膜是否符合它的化学式量.在符合化学式量基础上,再用FAAS分别测定Zn与Mn的质量分数,最终确定Mn在ZnS薄膜中的含量.与单独采用FAAs测定相比较,测定结果的相对误差,相对标准偏差相同.但是,该方法具有样品处理简单,分析周期短,所需样品量少等优点.不仅可以提供Mn在ZnS薄膜中的含量与构成质量,同时也可以对ZnS:Mn交流电致发光膜薄的浓度分布以及均匀度提供客观的评价指标,以利于镀膜工艺中各参数指标的改善.

关键词: XRD , FAAS , Zn , Mn交流电致发光薄膜

玻璃和柔性衬底上氧化铟锡薄膜特性的对比研究

王新 , 向嵘 , 任新光 , 李野 , 姜德龙 , 端木庆铎

液晶与显示 doi:10.3969/j.issn.1007-2780.2009.03.012

对采用磁控溅射方法生长在玻璃和柔性聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)塑料上的氧化铟锡(ITO)薄膜的结构、光学和电学特性进行了对比研究.在两种不同的衬底上均得到了不分相的、高质量的多晶ITO薄膜,其中生长在玻璃衬底上的ITO薄膜(002)衍射峰的半峰宽为0.24°,生长在PET衬底上的为0.28°.两种样品在可见光区都具有很高的透过率,其中玻璃衬底上生长的薄膜的透过率约为92%,PET上生长的薄膜的透过率高达87%.两种薄膜均具有良好的导电性,玻璃衬底上薄膜的电阻率为4.2×10-4Ω·cm,柔性PET衬底上薄膜的电阻率为4.7×10-4Ω·cm.实验结果证明,完全可以采用磁控溅射的方法在柔性衬底上生长出高质量的ITO薄膜.

关键词: 氧化铟锡 , 磁控溅射 , X射线衍射 , 透光率 , 电阻率

一种新的X-射线发光光谱测量装置的建立

任新光 , 罗劲松

液晶与显示 doi:10.3969/j.issn.1007-2780.2009.06.007

提出一种由X-射线发生器、光学光纤、荧光光谱仪组成的用于测定X-射线发光材料的新装置.该设备可以测定X-射线发光材料的荧光强度随着波长的变化曲线、荧光强度随着激发时间的变化曲线、余辉衰减随着时间的变化曲线以及余辉时间等.研究了X射线发光材料在不同时间段的光谱特征.

关键词: X-射线发光材料 , X-射线发光光谱

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