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低温下含Zn,Ag或Sc的8090合金正电子寿命谱分析

高英俊 , 吴伟明 , 冯冠之 , 许少杰 , 阮向东

金属学报

在25—275K范围内,测量了正电子在8090合金和含Zn,Ag或Sc的8090合金的湮没寿命.结果表明,τ1=175—187ps是典型的正电子在共格粒子δ'(Al3Li)上的湮没寿命;τ2对温度T有明显的依赖关系.只要同时考虑空位、晶界对τ2的影响,就可以很好地对这四种样品的τ2-T曲线作出解释,并可对空位的存在形式作出推断.

关键词: 8090合金 , positron annihilation lifetime , cryogenic temperature , vacancy , Zn , Ag , Sc

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