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Ba2TiSi2O8晶体的生长及包裹物缺陷分析

刘小凤 , 魏庆科 , 喻建兵 , 胡晓琳 , 庄乃锋 , 林树坤 , 陈建中

人工晶体学报

采用提拉法生长了Ba2TiSi2O8 (BST)晶体,并采用SEM和EDS等手段对晶体内部包裹物缺陷进行了分析.发现多晶原料中的Na,K,C1杂质元素的存在是导致晶体内部产生包裹物缺陷的主要诱因,采用低的生长速率和较快的晶体转速有利于获得高质量BTS单晶.另外,本论文还对晶体的硬度和透过光谱进行了测试与分析.

关键词: Ba2TiSi2O8 , 提拉法 , 晶体缺陷 , 硬度