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绝缘热老化局部放电信号频域分析的实验研究

张婷婷 , 周力行 , 向洋

绝缘材料 doi:10.3969/j.issn.1009-9239.2008.03.015

电气设备运行过程中常产生较高的温度,在热能作用下,其绝缘材料的性能会逐渐下降.阐述了在实验室中模拟环氧树脂在温度80℃和120℃下的热老化状态,测试了这两种温度下不同老化程度试样的局部放电,分析了放电信号在频域随老化时间的变化情况.实验结果表明,随着老化时间的增加,放电脉冲时域波形的高频振荡不断加剧;同时,频域中的高频分量越来越丰富,谱峰逐渐增多,并且在高频段出现特征峰分布;热老化温度越高,高频特征峰越高,出现得越早范围越宽.

关键词: 热老化 , 局部放电 , 频域分析 , 特征峰

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