吴霜
,
刘波
,
邱志澈
,
陈士伟
,
张娟楠
,
刘小林
,
顾牡
,
黄世明
,
倪晨
无机材料学报
doi:10.15541/jim20150503
LuTaO4是一种新型的辐射探测材料,但是制备高质量的透明薄膜面临着巨大挑战.为了在保证薄膜不开裂与高透明度的前提下提高薄膜的厚度,通过大量摸索选用聚乙烯吡咯烷酮(PVP)为胶黏剂并优化溶胶中固含量及PVP含量成功制备出单层厚度达到l00 nm的LuTaO4∶Ln3+(Ln=Eu,Tb)薄膜,保证了薄膜的透明度同时大大提高了发光性能.该方法为高质量LuTaO4∶Ln3+(Ln=Eu,Tb)厚膜的制备和应用奠定了基础.
关键词:
LuTaO4∶Ln3+(Ln=Eu,Tb)薄膜
,
溶胶-凝胶法
,
固含量
,
PVP
,
发光性能
吴霜
,
刘波
,
陈士伟
,
张娟楠
,
刘小林
,
顾牡
,
黄世明
,
倪晨
,
薛超凡
无机材料学报
doi:10.15541/jim20160034
Lu2SiO5∶ Ce3+薄膜具有高光产额、快衰减时间、高密度、高空间分辨率等优点,有望成为X射线探测中的闪烁材料,但制备高质量的薄膜面临挑战.本工作采用溶胶凝-胶法,通过对制备过程中水硅比、烧结程序、胶黏剂和固含量等四个因素的系统研究与分析,结果表明:在空气湿度为85％,溶胶水硅比为6.6条件下,适量添加PEG400,采用优化后最佳固含量,从450℃开始进行烧结程序后退火,可制备出具有透明、平整、无裂痕的高质量Lu2SiO5∶ Ce3+闪烁薄膜,单次旋涂获得的膜厚达到167 nm.实验表明水含量是引起薄膜发白的主要因素;烧结程序决定了薄膜的有机物分解程度及结晶状况;溶胶固含量及胶黏剂含量是调控薄膜厚度的重要方法.本工作为Lu2SiO5∶ Ce3+闪烁薄膜的实际应用奠定了基础.
关键词:
Lu2SiO5∶ Ce3+薄膜
,
水硅比
,
烧结程序
,
胶黏剂
,
固含量
,
发光性能
项忠维
,
张伟奎
,
李峰
,
吴霜
,
喻建良
,
马路
腐蚀科学与防护技术
针对大连石化公司催化裂化装置膨胀节的失效，利用电子能谱(EDX)、SEM电镜扫描等手段对失效膨胀节进行检测分析，得出膨胀节失效的主要原因是膨胀节的工作温度正处于其敏化温度，膨胀节在各种残余应力和硫酸、连多硫酸等特定腐蚀介质共同作用下发生的应力腐蚀开裂导致的失效，并首次提出采用填料函结构来补偿冷热变形的解决方案，使用效果极好.
关键词:
催化裂化
,
null
,
null
项忠维
,
张伟奎
,
李峰
,
吴霜
,
喻建良
,
马路
腐蚀科学与防护技术
doi:10.3969/j.issn.1002-6495.2005.02.018
针对大连石化公司催化裂化装置膨胀节的失效,利用电子能谱(EDX)、SEM电镜扫描等手段对失效膨胀节进行检测分析,得出膨胀节失效的主要原因是膨胀节的工作温度正处于其敏化温度,膨胀节在各种残余应力和硫酸、连多硫酸等特定腐蚀介质共同作用下发生的应力腐蚀开裂导致的失效,并首次提出采用填料函结构来补偿冷热变形的解决方案,使用效果极好.
关键词:
催化裂化
,
膨胀节
,
失效
,
应力腐蚀开裂
