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TiO2薄膜原子力显微镜图像多重分形谱的二次函数拟合

吕建国 , 孟凡明 , 周明飞 , 宋学萍 , 孙兆奇

功能材料

用原子力显微镜观察经不同退火温度处理TiO2薄膜的表面形貌,观察结果表明,随着退火温度的升高,颗粒不断长大,数目逐渐减少,表面粗糙度RMS从4.1nm增大到18.4nm.用最小二乘法对原子力显微镜图像多重分形谱进行二次函数拟合,结果显示,随着退火温度的升高,α0从1.999增大到2.008,由正值转变为负值,分形谱宽W由0.064增大到0.246,说明TiO2薄膜表面形貌愈来愈复杂.

关键词: TiO2薄膜 , 原子力显微镜 , 多重分形谱 , 二次函数拟合

退火温度对TiO2薄膜结构与光学性能的影响

孟凡明 , 周明飞 , 宋学萍 , 孙兆奇

功能材料

研究退火温度对薄膜相结构、表面化学组成、形貌及光学性能的影响.采用射频磁控溅射法在单晶硅片和石英玻璃片上负载TiO2薄膜,通过X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)、X光电子能谱(XPS)和紫外可见光谱(UV-vis)对其进行表征.结果表明,常温制备400℃以下退火的TiO2薄膜为无定形结构,400℃以上退火的TiO2薄膜出现锐钛矿相,600℃以上退火的TiO2薄膜开始出现金红石相,退火温度在1000℃以上时样品已经完全转变为金红石相;高温退火薄膜的组成为TiOx;随着退火温度的升高,薄膜透射率下降,折射率和消光系数有所增加.

关键词: TiO2薄膜 , 射频磁控溅射 , 退火,锐钛矿 , 金红石

基底温度对磁控溅射制备ZnO薄膜性能的影响

周明飞 , 宋学萍 , 孙兆奇

材料科学与工程学报 doi:10.3969/j.issn.1673-2812.2007.04.026

利用射频磁控溅射,在Si基底上制备了ZnO薄膜.采用电子薄膜应力分布测试仪、X射线衍射和傅立叶变换红外光谱仪等检测手段研究了基底温度对其应力、微结构及光学性能的影响.ZnO薄膜在(002)晶面具有良好的c轴取向.在基底温度为200~300 ℃范围内,ZnO薄膜具有良好的结晶性能和较均匀的应力分布.红外光谱在430cm-1附近出现了Zn-O键的振动吸收峰.

关键词: ZnO薄膜 , 基底温度 , 微结构 , 应力 , 红外光谱

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