李军
,
范广涵
,
杨昊
,
姚光锐
量子电子学报
doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2008.05.018
在LED电极欧姆接触中,载流子在金属电极和半导体间有不同的传输机制.通过载流子在金属半导体界面传输机制的模拟,讨论了界面介质层及其势垒对器件串联电阻和漏电流的影响,发现介质层电阻比LED的串联电阻小得多,可以忽略不计;但是随着器件的老化,介质层及其所含的缺陷会产生相当大的漏电流,使器件的可靠性和稳定性下降,也为LED的失效机理提供了理论依据.
关键词:
光电子学
,
发光二极管
,
介质层
,
欧姆接触
,
漏电流
