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外延生长Ge1-xSnx合金的研究进展

苏少坚 , 汪巍 , 胡炜玄 , 张广泽 , 薛春来 , 左玉华 , 成步文 , 王启明

材料导报

Ge1-xSnx是一种新型的Ⅳ族材料,具有广阔的应用前景,但是其生长存在许多困难,尤其是Sn易于分凝.采用离子轰击和快速变温等方法可以有效地抑制Sn的分凝,但是所生长的材料的热稳定性都比较差.采用化学气相沉积法获得了较高质量的Ge1-xSnx合金,但是所用的Sn气体源难以获得.综述了Ge1-xSnx合金外延生长的研究进展.

关键词: Ge1-xSnx合金 , 外延 , 分凝

500℃下利用UHV/CVD在Si衬底上直接生长近平面Si0.5Ge0.5层

赵雷 , 左玉华 , 李传波 , 成步文 , 罗丽萍 , 余金中 , 王启明

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2006.01.002

利用UHV/CVD系统,在一个相对较低的温度500℃下,研究了Si1-xGex层中的Ge含量与生长条件之间的关系,此时的Si1-xGex层处于一种亚稳的状态.并直接在Si衬底上生长制备了10个周期的3.0 nm-Si0.5Ge0.5/3.4 nm-Si多量子阱.拉曼谱、高分辨显微电镜和光荧光谱对其结构和光学性能进行的表征表明这种相对较厚的Si0.5Ge0.5/Si多量子阱结构基本上仍是近平面生长的,内部没有位错,其在电学和光学器件上具有潜在的应用.

关键词: UHV/CVD , 拉曼测量 , 光荧光 , Si0.5Ge0.5

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