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核素等时性质量测量实验中一种基于离子速度纯化次级束的方法

刘大委 , 王猛 , 徐星 , 颜鑫亮 , 帅鹏 , 涂小林 , 张玉虎 , 陈瑞九 , 邢元明 , 原有进 , 杨建成 , 徐瑚珊 , 夏佳文

原子核物理评论 doi:10.11804/NuclPhysRev.33.03.302

等时性质量谱仪(Isochronous Mass Spectrometry,IMS)是测量短寿命核素质量的有效实验装置。在IMS核素质量测量实验过程中,目标核素通过弹核碎裂反应产生,并被次级束流线分离、传输后注入到储存环内。由于远离稳定线的目标核素产额非常低,经常伴随大量杂质核素产生,这些杂质离子会加重飞行时间探测器(Time of Flight,TOF)系统的工作负担。在HIRFL-CSR利用IMS进行核素质量测量实验过程中,发展了一种进一步纯化筛选次级离子的方法,以减轻TOF系统的工作负担。基于次级离子在束流线中飞行速度的差异性,利用HIRFL-CSR踢轨磁铁(Kicker)系统,调节次级束流注入CSRe的时间,使次级离子得到进一步筛选和纯化后注入到CSRe内。在实验中,我们测试并验证了该方法的可行性,并讨论了它在纯化次级束流方面的作用。

关键词: 核素质量 , 速度 , 注入时间 , 纯化次级束

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