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钨钒共溅热致变色薄膜的制备及其红外光学性能

周晟 , 李毅 , 朱慧群 , 孙若曦 , 张宇明 , 黄毅泽 , 李榴 , 沈雨剪 , 郑秋心 , 佟国香 , 方宝英

稀有金属材料与工程

为解决VO2薄膜相变温度过高,热滞回线温宽过大以及掺杂后红外透过率变低等问题,开展了低成本钨钒共溅热致变色薄膜制备工艺的探索.先在室温条件下采用磁控共溅射的方法于玻璃基片上制备得到含钨量为1.4%的金属薄膜,再在空气中采用后退火工艺使金属薄膜充分氧化为热致变色薄膜.对薄膜样品的物理结构和光学性能进行了分析,发现钨钒共溅没有改变VO2薄膜在玻璃表面择优取向生长,但显著改变了VO2薄膜的表面形貌特征.观察到钨钒共溅热致变色薄膜的相变温度较普通VO2薄膜从68℃降低至40℃,热滞回线温宽由6℃缩小为3℃,低温半导体相的红外透过率分别为62%和57%.结果表明,钨钒共溅可达到相变温度降低,热滞回线温宽变窄,掺杂前后红外透过率变化不大之目的.

关键词: 热致变色 , 共溅射 , VO2薄膜 , 相变

考虑低温蠕变的钎料本构及芯片可靠性评价

张宇明 , 颜勇剑 , 翁琳 , 许金泉

材料科学与工程学报

金属材料及其合金的同系温度超过0.5时,蠕变成为材料变形的主导机理.钎料合金熔点较低,因而在极低温度下也可能发生蠕变变形.本文以Pb5Sn钎料为例,系统地测试了该钎料在-40℃~120℃范围内的蠕变特性,并提出了一套考虑更广温度、应力范围的钎料蠕变本构关系.数值仿真算例表明,在电子封装芯片可靠性评价中忽略钎料的低温蠕变可能导致结果的显著误差.

关键词: 钎料 , 蠕变 , 疲劳 , 本构关系 , 低温

无线控制系统人机接口的设计与实现

张涛 , 金龙旭 , 李国宁 , 张宇明

液晶与显示 doi:10.3969/j.issn.1007-2780.2010.06.015

嵌入式系统中为实现人机交互,常采用液晶显示屏和矩阵键盘作人机接口.文章采用一个192×64的液晶显示屏作为显示界面,两个ZigBee节点实现无线远程控制,液晶模块上还连接有一个矩阵键盘,可通过它发送命令到控制系统.液晶模块可实现中英文混排、LOGO位图显示、反显等一系列功能.实测无线通信距离最大可达到50 m,20 m以内可实现稳定的数据传输.该人机接口可用于无线抄表、数控等控制系统中.

关键词: ZigBee , 人机接口 , 液晶 , 无线控制系统

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