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低频磁场屏蔽材料的复合结构与屏蔽性能研究

许宏飞 , 薛跃军 , 郑自芹 , 张永信 , 张大江 , 张琼 , 董园园

兵器材料科学与工程

针对10~100 kHz的低频磁场设计了几种屏蔽材料的复合结构,研究不同屏蔽材料对低频磁场的屏蔽效能.结果表明:低频磁场的屏蔽效能主要与材料的磁导率和电导率有关,屏蔽效能随磁场频率的增加而增加;对于不同频率的磁场,通过调整屏蔽材料的复合结构,能够以较低的厚度获得较高屏蔽效能.

关键词: 低频磁场 , 屏蔽材料 , 复合结构 , 屏蔽性能

大截面辊轴断裂原因分析

许宏飞 , 薛跃军 , 张大江 , 张永信 , 郑自芹 , 张琼 , 董园园

兵器材料科学与工程

　　针对大截面辊轴发生延迟崩裂的现象，采用逻辑反推法，进行宏、微观断口形貌、显微组织结构、力学特性、化学成分分布及内应力分析，并进行去氢退火试验验证。结果表明：由于冶炼过程中未能有效除氢，局部氢含量偏高及辊轴调质热处理产生的残余应力，使辊轴内残存氢发生聚集膨胀导致延迟崩裂；辊轴断裂模式为氢脆解理断裂。提出从冶金除氢、锻后去氢处理和控制热处理加热速度3方面加以预防。

关键词: 辊轴 , 氢脆 , 失效分析 , 延迟断裂 , 解理 , 内应力

一种高强度加长螺栓断裂失效分析

许宏飞 , 张永信 , 薛跃军 , 张大江 , 张书田

针对一起高强度加长螺栓在装配过程中发生突然断裂事故，从螺栓断口宏、微观形貌特征入手，通过逐步深入分析，确定螺栓断裂失效的主要模式为氢脆延迟断裂，断裂成因是由于冶炼或浇铸控制存在问题所造成。

关键词: 高强度螺栓 , failure analysis , SEM , metallography , intergranular fracture

螺栓断裂原因分析

张永信 , 张书田 , 姚永进 , 薛跃军

物理测试 doi:10.3969/j.issn.1001-0777.2003.01.015

对一个断裂螺栓进行断裂原因分析,采用理化分析方法和手段,找到螺栓断裂的原因,提出了改进生产螺栓的措施.

关键词: 螺栓 , 断裂分析 , 改进

一种高强度加长螺栓断裂失效分析

许宏飞 , 张永信 , 薛跃军 , 张大江 , 张书田

针对一起高强度加长螺栓在装配过程中发生突然断裂事故,从螺栓断口宏、微观形貌特征人手,通过逐步深入分析,确定螺栓断裂失效的主要模式为氢脆延迟断裂,断裂成因是由于冶炼或浇铸控制存在问题所造成.

关键词: 高强度螺栓 , 失效分析 , 扫描电镜 , 金相 , 沿晶断裂

圆筒平盖封头压力管的应力数值分析

宁俊生 , 彭秀峰 , 张永信 , 李贵才

兵器材料科学与工程 doi:10.3969/j.issn.1004-244X.2004.01.006

根据有关理论在某圆筒平盖封头压力管受内压作用时,对其两大组件(平盖封头和内压圆筒)中的应力分布进行了理论计算,也对整个结构(包括焊接区)进行了不同载荷下应力分布的数值计算.分析了各组件和焊接区的应力分布、可能的失效区域以及失效载荷.

关键词: 压力管 , 平板理论 , 数值分析 , 等效应力

不锈钢制品表观缺陷的SEM分析

许宏飞 , 陈新力 , 张永信 , 曲在伦 , 史利军

物理测试 doi:10.3969/j.issn.1001-0777.2005.02.015

利用扫描电子显微镜(SEM)及其附带的X射线能谱仪(EDS)、X射线波谱仪(WDS)对某些不锈钢制品的表观缺陷进行了较深入的分析.从中可以看到:SEM分析手段及其结论对于不锈钢制品、尤其是进、出口产品的表观质量鉴定和商业纠纷仲裁等方面能起到非常重要的作用.

关键词: 扫描电子显微镜 , 不锈钢制品 , 表观缺陷

材料伸长率与试样标长之间的关系

张永信 , 姚永进

物理测试 doi:10.3969/j.issn.1001-0777.2002.06.011

基于试验研究,提出了材料伸长率与试样标距长度之间的经验关系,经对板式、棒式和管式试样的试验结果分析,利用定量关系换算的值与试验值吻合性很好.

关键词: 伸长率 , 标长 , 经验关系 , 试验

过热器管壁爆口和穿孔的SEM分析

许宏飞 , 张永信 , 李培中 , 王明建

物理测试 doi:10.3969/j.issn.1001-0777.2004.03.011

以扫描电子显微镜为主要检测手段,通过对过热器管壁爆口和穿孔的显微组织形态、显微氧化层特征、缺陷附近基体的形貌的观察,对该过热器管失效特性及其成因进行了推断.

关键词: 过热器管 , SEM , 氧化腐蚀

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