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Sb-Se系和Ge-Sb-Te系相变光盘记录介质的热力学参数、微观结构及光学性能

陈志武 , 胡乔生 , 张颖 , 程璇 , 张熹燕

金属学报 doi:10.3321/j.issn:0412-1961.2003.07.020

利用DSC，X射线衍射及分光光度计，对Sb-Se系和Ge-Sb-Te系记录介质的热力学参数、非晶态薄膜相变前后结构的变化及光学性能进行了系统的研究．结果表明，Sb-Se系非晶态的光稳定性很不理想，随着波长的改变，反射率变化太快．对于Ge-Sb-Te系的两种成分合金，在各种波段处都有较大的反衬度，其非晶态的光稳定性也比较理想，随着波长的改变，反射率变化不大．

关键词: 相变光盘 , 记录介质 , 热力学参数 , 光学 , 薄膜