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添加剂对Cu/Co多层膜电结晶成核机理及磁性的影响

曹为民 , 石新红 , 印仁和 , 姬学彬 , 张磊 , 曹赟

电镀与精饰 doi:10.3969/j.issn.1001-3849.2007.01.001

在硼酸镀液中以单晶Si(111)为基底用双槽法制备Cu/Co多层膜,在镀液中分别加入了镀铜添加剂2000#和镀钴添加剂5#.探讨了镀层电结晶成核机理,在基础镀液中铜电结晶为三维连续成核过程,钴电结晶在较低电位下为三维连续成核,在较高电位下为三维瞬时成核过程.加入添加剂后,铜、钴电结晶均为三维瞬时成核过程.测试了Cu/Co多层膜的磁性能;添加剂能提高多层膜的磁性能,无添加剂的Cu/Co多层膜的巨磁阻(GMR)值约为5%,而在加入了添加剂后,其GMR值高达52%.

关键词: 电结晶 , Cu/Co多层膜 , 成核 , 巨磁阻效应

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