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PICTS测试CdZnTe晶体中深能级缺陷

滕家琪 , 闵嘉华 , 梁小燕 , 周捷 , 张涛 , 时彬彬 , 杨升 , 曾李骄开

人工晶体学报

详细阐述了光生电流瞬态谱(PICTS)的原理、结构和搭建过程,其中搭建过程中采用的激光器波长为730nm,功率为50 mW,测试温度范围在液氮温度至常温之间.利用低压垂直布里奇曼法制备了掺In的CdZnTe晶体样品,采用PICTS研究了样品中的主要缺陷能级,确定了能级位置在0.471 eV和0.15 eV的两个深中心,这两个缺陷分别可能是VCd2-和A中心(InCd+-VCd2-)-.

关键词: PICTS , CdZnTe , 深能级 , 缺陷

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