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电流密度对熔融盐电沉积金属钨镀层性能的影响

刘艳红 , 张迎春 , 刘其宗 , 李旭亮 , 江凡 , 葛昌纯

电镀与涂饰

采用二元熔盐氧化物Na2WO4和WO3,以脉冲电沉积的方法 在占空比0.5、脉冲频率1000Hz、电沉积温度850C的条件下,于热沉材料CuCrZr之上获得了金属钨镀层.讨论了电流密度对钨镀层微观结构、显微硬度、结合强度等性能的影响,当电流密度为20~ 30mA/cm2时,能够获得表面致密均匀的钨镀层,随着电流密度的增大,电流效率呈现先增大后下降的趋势,当电流密度为30 mA/cm2时,电流效率达到最大值92.64%.

关键词: 铜-铬-合金 , , 熔盐 , 电沉积 , 电流密度 , 微观结构 , 电流效率

电沉积钨及钨合金涂层的研究进展

刘其宗 , 张迎春 , 刘艳红 , 李绪亮 , 江凡 , 葛昌纯

材料导报

金属钨及含钨涂层具有优良的性能,如高熔点、高硬度、良好的化学稳定性和较低的热膨胀系数,在多个领域被广泛应用,金属钨及含钨涂层有很多制备方法,其中电沉积法具有重要的地位.综述了熔盐电沉积钨涂层及溶液电沉积钨合金涂层的研究进展,并展望了熔盐电沉积钨涂层及溶液电沉积钨合金涂层的发展趋势.

关键词: 电沉积 , 钨涂层 , 钨合金

电流密度对V-4Cr-4Ti合金基体上电沉积W涂层显微结构的影响

李绪亮 , 张迎春 , 江凡 , 王莉莉 , 刘艳红 , 孙宁波

金属学报 doi:10.3724/SP.J.1037.2013.00042

利用Na2WO4-WO3熔盐体系在V-4Cr-4Ti合金基体上电沉积制备了金属W涂层,在电流密度为10-160 mA/cm2范围内研究了电流密度对金属W涂层的显微结构和力学性能的影响.研究结果表明,增大电流密度促进了W晶核的生长以及晶粒尺寸的增大.W原子更容易在V-4Cr-4Ti合金基体上形核,而在初始W晶核上继续沉积主要是W晶核长大的过程,电流密度较大(100 mA/cm2)时,W涂层的金相组织呈柱状和条状结构,电流密度较小时,W涂层组织呈牙柱状.W涂层的硬度随着电流密度的增加而下降,W涂层与V-4Cr-4Ti合金基体的结合强度超过59.36 MPa.电流密度为10 mA/cm2时,虽然涂层厚度仅有10 μm,但W涂层晶粒尺寸小于5 μm,涂层硬度、电流效率以及涂层和基体的结合力达到最大值,分别为628.42 HV,99.71%和96 N.

关键词: W涂层 , Na2WO4-WO3 , 电沉积 , 电流密度

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