田伦富
,
邹德霜
,
代以春
,
江学强
,
沈叶青
,
杨金芳
,
林良栋
冶金分析
doi:10.13228/j.issn.1000-7571.2014.10.010
选择铝锂合金系列标样建立校准曲线,通过基本参数法校正基体效应和光谱干扰,结果表明,校正后多数元素校准曲线的标准偏差(SD)和品质因子(K)变得更小,曲线的离散度降低,线性关系得到较大改善,由此建立了波长色散X射线荧光光谱法测定铝锂合金中Mg、Si、Ti、Cr、Zr、Fe、Cu、Zn、Mn等9种元素含量的新方法.各元素的检出限均低于4.5 μg/g.对E986铝锂合金标准样品进行精密度考察,各元素测定结果的相对标准偏差均低于0.9％;对铝锂合金实际样品进行分析,测定值与湿法及火花源原子发射光谱法的测定值吻合较好,能够满足铝锂合金中各元素的检测要求.
关键词:
X射线荧光光谱法
,
铝锂合金
,
基体效应校正
,
元素分析
