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磁控溅射制备低相转变温度氧化钒薄膜

李云龙 , 付花睿 , 张霄 , 周广迪 , 游才印 , 沈乾龙

金属功能材料 doi:10.13228/j.boyuan.issn1005-8192.2016081

采用直流反应磁控溅射法在不同氧分压气氛下制备了氧化钒薄膜,并进行后续真空退火处理.分别利用X-射线衍射仪,扫描电子显微镜和综合物性仪分析薄膜的相成分、表面形貌以及电性能.结果表明:随着氧分压的增加,450℃退火1h的薄膜逐渐由非晶态转变为VO2(M),VO2(M,B)和V6O13的混合结构,并且晶化程度逐渐提高.氧分压6.67%的薄膜相转变温度(TMST)接近52℃,SEM分析表明,微裂纹的存在为相转变时应力释放提供空间,降低了TMST.氧分压10%的薄膜具有-2.38 %/K的电阻温度系数(TCR)值和1.67×104 Ω的室温电阻值,满足制备非致冷红外探测器的要求.

关键词: 氧化钒薄膜 , 相转变温度 , 电阻温度系数(TCR) , 磁控溅射

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