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降温速率对CdZnTe晶体内Te夹杂相的影响

张涛 , 闵嘉华 , 梁小燕 , 滕家琪 , 时彬彬 , 杨升 , 张继军 , 王林军

稀有金属材料与工程

采用改进的垂直布里奇曼生长法生长CdZnTe (CZT)单晶.生长完成后,选取了10~60 K/h不同速率降温处理.采用红外透射显微镜和多道能谱仪分别测试不同降温速率的晶片内部Te夹杂相分布和能谱响应.结果表明,10~30K/h之间的慢速降温会导致晶体内部出现较大尺寸的Te夹杂(>10 μ.m),40 K/h以上的快速降温所得到的晶体内部主要以小尺寸<10 μm)为主.同时快速降温会导致晶体内部的Te夹杂浓度大量增加,并且降温速率越快,Te夹杂浓度越大.此外,降温速率过慢所得到晶片的能谱分辨率较差,但是降温速率过快也会影响到晶片的性能.40 K/h的降温速率所得到的晶片能谱性能较好,实验结果表明:大尺寸或者高浓度的Te夹杂都不利于能谱响应,保留一定浓度的小尺寸Te夹杂的晶体能谱性能较佳.

关键词: Te夹杂相 , 降温速率 , CdZnTe

PICTS测试CdZnTe晶体中深能级缺陷

滕家琪 , 闵嘉华 , 梁小燕 , 周捷 , 张涛 , 时彬彬 , 杨升 , 曾李骄开

人工晶体学报

详细阐述了光生电流瞬态谱(PICTS)的原理、结构和搭建过程,其中搭建过程中采用的激光器波长为730nm,功率为50 mW,测试温度范围在液氮温度至常温之间.利用低压垂直布里奇曼法制备了掺In的CdZnTe晶体样品,采用PICTS研究了样品中的主要缺陷能级,确定了能级位置在0.471 eV和0.15 eV的两个深中心,这两个缺陷分别可能是VCd2-和A中心(InCd+-VCd2-)-.

关键词: PICTS , CdZnTe , 深能级 , 缺陷

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