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基于双芯片的DMTA数值测控系统

王喜忠 , 王亮忠 , 汪悦 , 王振清

物理测试 doi:10.3969/j.issn.1001-0777.2007.06.009

基于STC89C52和Atmel89C4051的双芯片系统,通过测试材料在不同温度下和不同振动情况下的自由衰减曲线,经数值处理得到材料的动态力学性能.实验过程实现了计算机对设备的控制和数据采集,经处理可以获得材料在全温度范围内的损耗、弹性模量和损耗模量等.本系统易操纵,自动化程度高,设备体积小.

关键词: 双芯片系统 , 动态力学热分析仪(DMTA) , 数值测控系统

基于双芯片的DMTA数值测控系统

王喜忠 , 王亮忠 , 汪悦 , 王振清

物理测试

基于STC89C52和Atmel89C4051的双芯片系统,通过测试材料在不同温度下和不同振动情况下的自由衰减曲线,经数值处理得到材料的动态力学性能。实验过程实现了计算机对设备的控制和数据采集,经处理可以获得材料在全温度范围内的损耗、弹性模量和损耗模量等。本系统易操纵,自动化程度高,设备体积小。

关键词: 双芯片系统 , DMTA , numerical test and control system

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