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MgO-CaO-ZrO2耐火材料的性能、制备与应用

王领航 , 高里存

耐火材料 doi:10.3969/j.issn.1001-1935.2004.05.016

系统地介绍了MgO-CaO-ZrO2耐火材料的性能特点、应用领域、制备与使用情况.指出,利用高纯原料制备MgO-CaO-ZrO2耐火材料已取得成功,而利用天然原料低成本地制备MgO-CaO-ZrO2耐火材料将成为今后研究的主要课题;同时指出,MgO-CaO-ZrO2耐火材料的剥落现象是影响其使用寿命的主要原因,还有待于进一步研究改进.

关键词: MgO-CaO-ZrO2耐火材料 , 抗侵蚀性 , 热震稳定性 , 挂窑皮性 , 水泥回转窑 , 精炼炉

碲锌镉晶体晶格畸变的测定与分析

曾冬梅 , 介万奇 , 黄斌 , 王涛 , 王领航

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2006.01.013

在高分辨X射线衍射仪上,利用不对称布拉格衍射STD技术与单晶摇摆曲线技术相结合的方法,对碲锌镉单晶材料的晶格畸变进行了分析测定.此方法实现了一次装样,多角度、多次测定晶体的摇摆曲线,从而利用多组实验数据完成多元线性回归方程组的求解,避开了一般应变测定方法中难以确定无应力状态下衍射角的问题.所测定的生长态碲锌镉晶片晶格畸变量为10-3~10-2数量级,该畸变量是碲锌镉晶片存在成份偏析、位错和空位等缺陷以及晶片受到的应力综合作用的结果.

关键词: X射线衍射 , 摇摆曲线 , 不对称布拉格衍射 , 晶格畸变

碲铟汞晶体制备及其热稳定性研究

王领航 , 介万奇

材料科学与工艺

以高纯Hg、In、Te单质为原料,通过元素直接化合反应合成了碲铟汞(MIT)多晶料,并利用合成的高纯多晶料,在特殊设计的坩埚中,采用垂直Bridgman法通过自发成核方式成功地生长了尺寸为Φ15 mm×175 mm的MIT单晶体.利用X射线粉末衍射技术对MIT晶体结构及物相进行的分析表明,所获得的晶体是单相的MIT晶体,为缺陷闪锌矿结构,空间群为F(43)m.采用高分辨X射线衍射仪测量了所生长MIT晶体的摇摆曲线,结果表明所得晶体完整性较好,为高质量的单晶体.对所生长的MIT晶体进行了热分析,发现在MIT晶体中有Hg溢出现象.

关键词: 碲铟汞 , 晶体生长 , 垂直Bridgman法 , 半导体材料 , 近红外光电探测器

碲铟汞多晶料合成与晶体生长

王领航 , 介万奇

稀有金属 doi:10.3969/j.issn.0258-7076.2009.01.027

以高纯Hg,In,Te单质为原料,通过元素直接化合反应合成了碲铟汞(MIT)多晶料,并利用合成的高纯多晶料,在特殊设计的坩埚中,采用垂直Bridgman法通过自发成核方式成功地生长了尺寸为Φ 15 mm×175 mm的MIT单晶体.利用X射线粉末衍射技术对MIT晶体结构及物相进行了分析,结果表明,所获得的晶体是单相的MIT晶体,为缺陷闪锌矿结构,空间群为F43m.采用高分辨X射线衍射仪测量了所生长MIT晶体的摇摆曲线,结果表明,所得晶体完整性较好,为高质量的单晶体.对所生长的MIT晶体进行了热分析,发现在MIT晶体中有Hg溢出现象.

关键词: 碲铟汞 , 晶体生长 , 垂直Bridgman法 , 半导体材料 , 近红外光电探测器

HgInTe晶片表面化学抛光研究

杨杨 , 王领航 , 介万奇 , 王亚彬 , 傅莉

人工晶体学报

对HgInTe(MIT)晶片表面化学抛光工艺进行了研究,采用不同浓度的Br2-C3H7ON以及Br2-MeOH作为抛光液对MIT晶片进行化学抛光后发现,5%Br2-C3H7ON抛光液的抛光速度平稳且易于控制,抛光3min后可以有效去除表面划痕,获得光亮表面,表面形貌达到最佳效果.AFM分析结果表明,5%Br2-C3H7ON抛光后的晶片表面粗糙度降低67%,平整度显著增加.相比之下,5%Br2-MeOH抛光液抛光速度过快,抛光后的表面形貌较差.

关键词: HgInTe , 化学抛光 , 腐蚀速率 , 表面粗糙度

电极材料对碘化汞(α-HgI2)晶体Ⅰ-Ⅴ特性的影响

许岗 , 介万奇 , 王领航 , 孙晓燕

人工晶体学报

利用Aligent4155型CVIV测试仪分别对Au/HgI2、AuCl3(Au)/HgI2、C(石墨)/HgI2接触的,Ⅰ-Ⅴ特性进行了测定,对比研究了不同电极材料与α-HgI2晶体所形成的接触特性,并利用热电子发射理论对实验结果进行了分析.结果表明,AuCl3和C均能与HgI2形成良好的欧姆接触,其欧姆特性系数分别为1.0291和0.9380,接触电阻分别为3.0×108Ω和1.0×108Ω;而溅射Au与Hg2接触的欧姆特性较差,欧姆系数约为0.8341,接触电阻为3.5×109Ω.这说明AuCl3,在HgI2表面形成了重掺杂,产生显著的隧道电流,从而形成了较理想的欧姆接触.C(石墨)化学性能稳定,电极制备工艺没有影响晶体表面质量,因此C(石墨)/HgI2接触电阻最小,并具有良好的欧姆特性.而溅射Au过程中由于温度升高引起晶体表面HgI2分子的挥发,造成晶体表面质量下降,导致Au/HgI2接触的欧姆特性变差.

关键词: 碘化汞 , , 石墨 , 氯化金 , 电极 , Ⅰ-Ⅴ特性 , 接触电阻

近红外半导体材料HgInTe的缺陷腐蚀

董阳春 , 王领航 , 介万奇

人工晶体学报

研究了HgInTe的腐蚀工艺,探索出一种适合于HgInTe的腐蚀液,并对腐蚀原理做了分析.利用该腐蚀液对HgInTe晶体内部的缺陷种类和分布进行了研究.结果表明,垂直轴向切割的HgInTe晶片腐蚀后的位错蚀坑呈近等腰三角形.在本实验条件下,位错蚀坑密度EPD(etch-pit density)约在105/cm2数量级.HgInTe晶体中的位错墙主要以边重叠和角重叠两种方式排列而成.HgInTe中存在少量由内应力引起的微裂纹.该腐蚀液能有效地显示HgInTe晶体不同晶面的多种缺陷,腐蚀效果较好.

关键词: 碲铟汞 , 缺陷 , 腐蚀坑 , 半导体材料

HgInTe晶体的生长及其性能研究

王领航 , 董阳春 , 介万奇

功能材料

利用垂直Bridgman法生长了HgInTe单晶体,并采用X射线衍射分析、FT-IR光谱分析对晶体的形态结构及红外透过性能进行了检测,结果表明所生长的晶体是高质量的单相完整单晶体,其在400~4000cm-1范围内的红外透过性能较好,达到50%~55%,晶体对红外光的吸收主要为晶格吸收和自由载流子吸收引起的.

关键词: HgInTe , 晶体生长 , 垂直布里奇曼法 , 光电半导体材料 , 近红外探测器

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