刘英
,
臧慕文
,
童坚
,
卓军
稀有金属
doi:10.3969/j.issn.0258-7076.2000.02.002
研究建立了电感耦合等离子发射光谱 (ICP-AES) 法测定锂离子电池电极材料中杂质成份镍、铁、钠、钙的分析方法. 试样分析与误差统计结果分别为: 相对标准偏差 (RSD) (n=6): 镍≤2.5%、铁≤4.4%、钠≤8.5%、钙≤4.6%, 加标回收率: 镍 98.3%～101.3%、铁 99.6%～102.5%、钠 99.6%～102.5%、钙 96.0%～100%. 该分析方法准确、简便、快速, 完全能满足锂离子电池电极材料分析的要求.
关键词:
ICP-AES法
,
LiCoO2
,
杂质成分
,
镍
,
铁
,
钠
,
钙
童坚
,
吴辛友
稀有金属
doi:10.3969/j.issn.0258-7076.2006.01.026
方法用阳离子交换色谱分离钨基体, 同时富集痕量杂质元素钾、钠, 以火焰发射光谱法测定5N高纯钨粉中痕量钾钠. 钨基体99.98%以上有效分离, 钾钠的富集倍数达1～2个数量级. 本方法有效地降低试验空白, 以提高分析灵敏度, 钾、钠检测下限分别为0.10, 0.50 μg·g-1, 可以满足高纯钨粉(5N)和仲钨酸铵(5N)的分析要求. 采用火焰发射光谱法检测钾、钠, 具有较高的稳定性和灵敏度, 标准加入回收率在89%～115%, 对于痕量钾、钠分析是一种较理想的分析方法.
关键词:
火焰发射光谱法
,
离子交换色谱
,
高纯钨粉
韩国军
,
伍星
,
童坚
中国稀土学报
研究了不经基体分离, 膜去溶-ICP-MS法直接测定高纯CeO2中14种痕量稀土杂质的分析方法, 讨论了Ce基体产生的多原子离子对被测元素的质谱干扰, 并且对影响多原子离子产率的因素进行了分析, 同时建立了Pr, Gd, Tb和Yb数学校正方程. 通过使用膜去溶雾化器和优化ICP-MS参数, 消除了CeH+, CeO2+和CeO2H+产生的质谱干扰, 将CeO/Ce产率降为0.008%, 同时结合数学校正方程彻底消除了CeO+, CeOH+和CeOH2+的质谱干扰. Pr, Gd, Tb和Yb的方法测定下限分别为0.08, 0.1, 0.15和0.008 μg · g-1, 14种稀土杂质方法测定下限和为0.75 μg · g-1. 99.999%高纯CeO2实际样品测定加标回收率为96%～103%, RSD为 1.2%～4.3%.
关键词:
高纯CeO2
,
膜去溶
,
数学校正
,
ICP-MS
,
多原子离子干扰
,
稀土
