宋霞
,
杨双花
,
翟智卫
耐火材料
doi:10.3969/j.issn.1001-1935.2011.04.025
用市售硅石、硅砖国家标准物质和SiO2基准试剂配制出一系列适当含量范围的标准样品,采用低稀释比玻璃熔片法,研究了高纯硅石中主次成分的X射线荧光光谱分析方法,并且对熔剂种类、稀释比、熔样条件进行了系统研究.国家硅石标准物质的测定值与标准值相一致,应用于实际样品的测定并和化学法比较,分析结果也基本一致.该方法操作简单、快速,结果准确,精密度好,具有良好的实用性.
关键词:
低稀释比
,
玻璃熔片法
,
X射线荧光光谱法
,
高纯硅石
,
系列标准样品
