欢迎登录材料期刊网

材料期刊网

高级检索

  • 论文(1)
  • 图书()
  • 专利()
  • 新闻()

X-射线荧光光谱法测定生铁中硅和磷

甄洪香 , 徐增芹 , 葛镧

冶金分析 doi:10.3969/j.issn.1000-7571.2005.04.011

探讨了应用能量色散型X-射线荧光光谱仪测定生铁中硅和磷的炉前快速分析方法.该方法所得测定结果与化学法测定结果或标样认定值相吻合,相对标准偏差小于1.3%,与化学法相比,硅和磷的测定时间由15 min缩短到2 min.

关键词: 偏振式能量色散型X-射线荧光光谱仪 , 生铁 , 次级靶

出版年份

刊物分类

相关作者

相关热词