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热丝CVD法沉积固态扩散源制备晶硅太阳电池p+/n+发射极研究

宿世超 , 王涛 , 韩宇哲 , 田罡煜 , 黄海宾 , 高超 , 岳之浩 , 袁吉仁 , 周浪

人工晶体学报

为进一步提高晶硅太阳能电池发射极的性能,本文提出了一种新的发射极制备技术-低温CVD法沉积固态薄膜扩散源并进行高温扩散.采用热丝化学气相沉积法(HWCVD)在单晶硅片上沉积重掺杂硅基薄膜作为固态扩散源,然后在空气氛围下的管式炉中进行高温扩散,最后用稀HF溶液去除表面的BSG/PSG.通过掺磷薄膜扩散在P型单晶硅片上制备了方阻在50~250 Ω/□范围内可控的n+型发射极;通过掺硼薄膜扩散在N型硅片上制备了方阻在150 ~600Ω/□□范围内可控的p+型发射极.并且通过在源气体中加入CO2作为氧源,实现了扩散后硅片表面残留扩散源层的彻底去除.

关键词: HWCVD , 晶硅太阳电池 , 固态扩散源 , 发射极 , 方阻

HWCVD 工艺参数对 a-Si∶H 薄膜结构及其对单晶硅片钝化效果的影响研究?

何玉平 , 黄海宾 , 周浪 , 宁武涛 , 袁吉仁 , 李丹

功能材料 doi:10.3969/j.issn.1001-9731.2015.22.013

采用 HWCVD 法双面沉积 a-Si∶H 膜钝化n-Cz-Si 片表面,利用光谱型椭偏测试仪和傅里叶红外光谱仪研究沉积气压、电流和热丝衬底间距对 a-Si∶H 薄膜结构及钝化性能的影响.结果表明,(1)薄膜中SiH 2键相对 SiH 键含量随气压升高逐渐减少,随电流增大先减少后增大;(2)热丝衬底间距4.0 cm 相比7.5 cm沉积的 a-Si∶ H 薄膜微观结构中,SiH 2键相比SiH 键的比例更高,钝化效果也更好;(3)本文范围内,工艺参数分别为热丝衬底间距4.0 cm 时气压1.5 Pa,沉积电流21.5 A 情况下钝化效果最优,钝化后硅片的表面复合速率为2.9 cm/s.

关键词: HWCVD , a-Si∶H , 钝化 , ε2 , FT-IR , SiHn , 微观结构参数R?

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