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基于CCD技术的塑料薄膜缺陷检测系统

许恒迎

绝缘材料

采用测量中广泛使用的光电转换器件线阵电荷耦合(CCD)技术,完成了塑料薄膜缺陷检测系统的总体方案设计.基于DSO的塑料薄膜缺陷检测系统在平行光的照射下,通过线阵CCD控制电路获得塑料薄膜缺陷信号,使用虚拟示波器DSO-2902对一维缺陷信号进行采集、传输,借助于计算机进行分析处理,精确地检测出薄膜的缺陷.

关键词: 光电检测 , DSO , 塑料薄膜 , 缺陷 , CCD