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胡晓静 , 黄大亮 , 赵恒英
冶金分析 doi:10.3969/j.issn.1000-7571.2005.06.022
采用电感耦合等离子体原子发射光谱法对工业硅中11种化学成分进行系统的不确定度分析,阐述了测定过程不确定度的主要来源,对各不确定度分量进行了量化计算,提出了量化过程所需各参数的采集和统计计算方法,得出合成标准不确定度、扩展不确定度及测定结果的置信区间.
关键词: 电感耦合等离子体原子发射光谱法 , 工业硅 , 不确定度 , 多元素
