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倾斜磁控溅射制备低阻高透ITO薄膜及其光电特性

赵海娇 , 王丛 , 石晓光 , 刁训刚

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2010.06.016

利用直流磁控溅射方法,在Ar和O2的混合气氛中,采用陶瓷靶制备ITO薄膜;采用紫外-可见-红外分光光度计和四探针法研究了溅射工艺参数对ITO薄膜的光电特性的影响.实验结果表明,当靶材角度在23-25℃、O2流量在7-9sccm、溅射时间在60-90min和溅射功率在100-120W时获得可见光透过率高于90%,方阻在10-20Ω/口之间的优质ITO薄膜.

关键词: ITO透明导电膜 , 直流磁控溅射 , 室温沉积 , 靶材倾斜角度

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