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非晶氮氧化硅薄膜中新发光缺陷态的研究

董恒平 , 陈坤基 , 李伟 , 孙正凤 , 黄敏 , 段欢 , 曹燕 , 王友凤

材料导报 doi:10.11896/j.issn.1005-023X.2014.22.006

利用等离子体增强化学气相淀积(PECVD)方法在室温下制备出非晶氮氧化硅(a-SiNx Oy)薄膜.通过调节薄膜中的Si/N比例,可使其光致发光峰位在450~600nm的较宽波长范围内连续可调.对比a-SiNx薄膜和a-SiNxOy薄膜的发光特性,发现此薄膜发光来源于由氧引入的新发光缺陷态.由光吸收谱的测量结果可以推断出此发光缺陷态在光吸收边之下约0.65 eV处的禁带中.并且,通过傅里叶变换红外光谱(FTIR)和X射线光电子能谱(XPS)测量,证实了这种新发光缺陷态与薄膜中存在的O-Si-N键合结构有关.

关键词: 非晶氮氧化硅薄膜 , 可调光致发光 , 缺陷态

a-Si/a-SiNx超晶格材料光学特性

张春华 , 郭亨群 , 王国立 , 申继伟 , 徐骏 , 陈坤基

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2009.03.002

采用射频磁控反应溅射技术制备不同Si层厚度的a-Si/a-SiNx超晶格材料.利用红外光谱(IR)、能谱(EDS)、X射线衍射谱(XRD)、吸收谱和光致发光(PL)谱对超晶格材料的成分、结构和发光特性进行研究.结果表明,样品的光学吸收边和PL峰随着Si层的厚度的变化而发生明显偏移,观察到了明显的量子限制效应.在氮气保护下以1000℃对样品进行热退火处理,发现Si层厚的样品退火后发光峰相对于退火前发生了蓝移,这归因于样品中nc-Si颗粒的形成.

关键词: a-Si/a-SiNx超晶格 , 光致发光 , 量子限制效应 , 射频磁控反应溅射

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