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去除溶液中氯离子的技术的研究进展

陈慧慧 , 袁礼锐 , 李梦星 , 杭蕾 , 魏无际

材料保护

溶液中的氯离子易引起金属严重腐蚀,尤其是对各种成膜性的金属,影响其电解效率、镀层质量、湿法冶炼和工艺过程等,因而去除和控制氯离子的技术在防腐蚀、电解、电镀、湿法冶炼及环保领域备受关注.为此,在归纳各种技术及其化学原理的基础上,着重综述了近十年国内外相关技术(包括化学沉淀技术、离子交换技术、电化学技术及其他技术等)的研究进展,评述了其在防腐蚀、电解、电镀、湿法冶炼、环保等行业中的应用现状、前景以及不足.

关键词: 氯离子 , 去除技术 , 防腐蚀 , 电解 , 电镀 , 工业水处理

预压成型对荧光体CaAl2Si2O8∶Eu3+,Li+发光性能的影响

王飞 , 陈慧慧

硅酸盐通报

采用高温固相法制备了红色荧光粉Ca0.97Al2Si2O8∶ Eu0.033+,Li0.03+,研究了预压压力对其的晶体结构和发光性质的影响.XRD图谱显示,合成的试样均为纯相的CaAl2Si2O8晶体,三斜晶系,空间群为P-1.随着预压压力的增大时,各试样衍射图谱的各衍射峰的强度均有一定程度的增强,其中衍射最强峰(004)强度呈线性递增,斜率为15.9286,试样的晶胞参数a,b,c逐渐减小.在614 nm波长的监控下,收集到位于220~ 580 nm范围的激发光谱,该激发光谱由220~340 nm宽激发带和一组锐线峰构成,激发光谱中的最强峰为394 nm(7 F0→5 L6),其次为462 nm(7F0→5 D2);预压压力改变对7 F0→5L6影响较大.用394 nm激发Eu3+ (5L6)得到发射光谱,光谱中的锐线峰580am,594 nm,614 nm,655 nm,和705 nm归属于Eu3+的5D0→7FJ(J =0,1,2,3,4)的跃迁;预压压力在0~4 MPa范围内,预压压力对CaAl2Si2O8基质中的Eu3+的电偶极跃迁5D0→7F2影响较大.预压压力4 MPa试样激发和发射光谱强度相比于预压压力0 MPa试样分别增强52.52%,65.80%.荧光粉Ca0.97Al2Si2O8∶Eu0.033+,Li0.03+的色坐标a和色温均随着预压压力的增加而逐渐增加,分别增加0.0089,778 K,各试样的色坐标在(0.624,0.374)左右,色温约为4000K.

关键词: 预压成型 , Ca0.97Al2Si2O8∶Eu0.033+,Li0.03+ , 晶体结构 , 发光性能

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