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氧化铝中Fe、Si等11种杂质元素的光谱分析

李林元 , 颜晓华

硬质合金 doi:10.3969/j.issn.1003-7292.2006.01.008

采用原子发射光谱法,选择了合适的光谱测定条件,建立了氧化铝中Fe、Si等11种杂质元素同时测定的分析方法.

关键词: 原子发射光谱 , 光谱测定条件 , 氧化铝

X 射线荧光光谱法测定碳化钨粉中铁

颜晓华 , 彭宇 , 苏明 , 梁仲添

冶金分析 doi:10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.009697

碳化钨是一种由钨和碳组成的深灰色化合物粉末,常应用于生产各类硬质合金。为了消除颗粒效应,实验采用熔融方法制样,因碳化钨不能直接熔融,故先将碳化钨氧化成三氧化钨,按稀释比1∶10加入混合熔剂[m(Li2B4O7)∶ m(LiBO2)=67∶33],加0.25 mL 500 g/L溴化锂溶液为脱膜剂,高频熔样机1050℃熔融14 min ,制备三氧化钨的熔融玻璃片。建立了X射线荧光光谱仪(XRF)测定碳化钨粉中铁含量的分析方法。在无合适含铁的碳化钨及三氧化钨标样的情况下,采用在三氧化钨基体中加入铁标准溶液(硝酸介质)的方式配制标样,采用变动的理论α影响系数法校正基体效应,校准曲线在铁质量分数0.01%~0.30%范围内相关系数为0.999。对三氧化钨标准样品进行分析,测定值与认定值一致;对碳化钨实际样品进行分析,铁的测定结果同国家标准的分光光度法一致,相对标准偏差(RSD ,n=7)小于4.0%。

关键词: 碳化钨 , X射线荧光光谱 , , 三氧化钨

直流电弧直读光谱法测定钼粉其及化合物中铁、硅等17种杂质元素

李林元 , 彭宇 , 颜晓华 , 张蕾

硬质合金 doi:10.3969/j.issn.1003-7292.2016.04.007

利用原子发射光谱原理,运用载体分馏效应,在载体存在的条件下利用基体与杂质元素的蒸发特性,电极中实现杂质元素与基体分馏,用直流电弧阳极激发,仪器在激发过程同时进行信号采集和背景校正,完成所有光谱数据的采集.通过大量的试验,选择碳粉、碳酸钠、氧化镓、氟化钠、氧化锗、氧化锌按一定比例混合做载体,采用12A作为工作电流,根据时序分析、扫描峰等确定各元素积分时间、50 s总曝光时间、分析线波长,建立了直流电弧直读光谱仪同时测定钼粉及其化合物中铁、硅等17种杂质元素的分析方法,分析范围为0.5~350μg/g,加标回收率94%~107%,RSD小于17%,满足光谱分析要求.方法快速简便,适用于生产分析.

关键词: 原子发射光谱 , 直流电弧 , 直读光谱仪 , 同时测定 , 纯钼

X射线荧光测定复式碳化物中W、Ti、Ta、Fe方法研究

颜晓华 , 彭宇 , 苏明

硬质合金 doi:10.3969/j.issn.1003-7292.2015.04.008

复式碳化物是一种硬质合金行业和其他新材料行业广泛使用的原料,常用的复式碳化物由TiC、WC、TaC等固溶生成.本方法以m(Li2B4O7)∶m(LiBO2)=67∶33为熔剂制备复式碳化物的熔融玻璃片,采用Bruker公司的S8 Tiger型顺序式X射线荧光光谱仪和Spectra plus基体效应校正等软件,在熔融条件、标样的设置、转换系数的计算、仪器条件等方面进行探讨,建立了X射线荧光光谱仪测定复式碳化物中W、Ti、Ta、Fe的含量方法,方法分析测定范围(氧化物)W 25.55%~52.41%、Ti 8.89%~31.48%、Ta 15.03%~28.54%、Fe 0.032%~ 1.07%,结果表明,方法的精密度和准确度较好.

关键词: 复式碳化物固溶体 , 化学分析 , X射线荧光光谱 , W , Ti , Ta , Fe

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