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X射线荧光光谱法测试金铂饰品中铑覆盖层厚度及主体元素

龙建 , 王丽敏 , 黄佩英

黄金 doi:10.11792/hj20150920

采用X射线荧光光谱法,通过对比标准铑覆盖层片、标准金合金片和标准铂合金片,在非破坏性的前提下,同时测定金、铂饰品中的铑镀层厚度及主体元素。采用该方法的测试结果与经典库仑法、ICP差减法和火试金法的测试结果进行了对比验证,该方法测试结果具有较高的准确度。

关键词: X射线荧光光谱法 , , , 首饰 , 铑覆盖层 , 主体元素

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